自動執行寬禁帶SiC/GaN器件的雙脈衝測試
發布時間:2023-09-06 責任編輯:lina
【導讀】減少碳排放的迫切需求推動了對電氣技術的投資,特別是數據中心和電動汽車領域。根據彭博社最新的電動汽車展望報告,到 2050 年,幾乎所有道路運輸都將實現電氣化,預計將導致全球電力需求激增 27%。這一趨勢凸顯了電氣解決方案在遏製溫室氣體排放和塑造更具可持續性的未來方麵的重要意義。
減少碳排放的迫切需求推動了對電氣技術的投資,特別是數據中心和電動汽車領域。根據彭博社最新的電動汽車展望報告,到 2050 年,幾乎所有道路運輸都將實現電氣化,預計將導致全球電力需求激增 27%。這一趨勢凸顯了電氣解決方案在遏製溫室氣體排放和塑造更具可持續性的未來方麵的重要意義。

越來越多的氮化镓 (GaN) 和碳化矽 (SiC) 等寬帶隙 (WBG) 半導體取代開關模式電源和電機驅動器中的矽基功率 MOSFET 和 IGBT。這種轉變是由 GaN 和 SiC 器件的出色性能帶來的,包括比矽器件更快的開關速度、更高的功率密度、更好的頻率響應、更小的泄漏電流、更低的導通電阻以及更高的工作溫度。結果是提高了運行效率,降低了能耗,有助於遵守法規和認證要求,以及符合當前的 JEDEC JC-70 寬(kuan)帶(dai)隙(xi)電(dian)力(li)電(dian)子(zi)轉(zhuan)換(huan)半(ban)導(dao)體(ti)標(biao)準(zhun)。為(wei)了(le)確(que)保(bao)合(he)規(gui)性(xing),需(xu)要(yao)對(dui)這(zhe)些(xie)先(xian)進(jin)的(de)半(ban)導(dao)體(ti)技(ji)術(shu)進(jin)行(xing)全(quan)麵(mian)測(ce)試(shi),這(zhe)不(bu)僅(jin)富(fu)有(you)挑(tiao)戰(zhan)性(xing),還(hai)需(xu)要(yao)新(xin)的(de)測(ce)試(shi)策(ce)略(lve)。
泰克在最近的文章“自動執行 WBG 器件的雙脈衝測試”中探討了如何通過對 SiC 和 GaN 功率器件等寬帶隙器件自動執行雙脈衝測試,從而顯著縮短設置和分析時間。
驗證基於 SiC 或 GaN 的 WBG 器件時,工程師必須測試多個參數,包括:
● 開關損耗:精確的時間對齊至關重要。捕獲信號時的納秒誤差可能會導致結果不準確。
● 峰值電壓:在大電流、高速硬開關過程中,常常會出現電壓尖峰。
● 峰值電流:WBG 晶體管的快速開關操作會產生尖峰電流,給器件施加壓力,並可能縮短器件的使用壽命。
● 反向恢複電荷:對反向恢複電荷行為進行量化,以了解其對總損耗的貢獻。

雙脈衝測試 (DPT) 是測量寬帶隙 (WBG) 器qi件jian的de開kai關guan和he二er極ji管guan反fan向xiang恢hui複fu參can數shu的de首shou選xuan方fang法fa。這zhe種zhong高gao效xiao的de測ce試shi方fang法fa可ke以yi收shou集ji關guan鍵jian測ce量liang結jie果guo,從cong而er高gao效xiao地di驗yan證zheng和he優you化hua電dian源yuan轉zhuan換huan器qi的de設she計ji。文wen中zhong詳xiang細xi闡chan述shu了le DPT 信號的定義,分享了帶有測量軟件的示波器如何實現自動測試設置、執行和分析。自動測量軟件通過消除手動步驟來簡化流程,既能節省時間,又能確保結果的一致性和可重複性。
雙脈衝測試 (DPT) 方法是評估功率器件的開關參數和動態行為的首選方法。采用自動 DPT 設(she)置(zhi)和(he)分(fen)析(xi),可(ke)以(yi)顯(xian)著(zhu)縮(suo)短(duan)測(ce)試(shi)時(shi)間(jian),加(jia)快(kuai)下(xia)一(yi)代(dai)電(dian)源(yuan)轉(zhuan)換(huan)器(qi)的(de)上(shang)市(shi)速(su)度(du)。此(ci)外(wai),完(wan)全(quan)遠(yuan)程(cheng)控(kong)製(zhi)運(yun)行(xing)測(ce)試(shi)可(ke)以(yi)提(ti)高(gao)安(an)全(quan)性(xing),避(bi)免(mian)與(yu)高(gao)電(dian)壓(ya)、高電流的被測設備 (DUT) 直接接觸。
臨(lin)界(jie)值(zhi)的(de)測(ce)量(liang)和(he)功(gong)能(neng)性(xing)的(de)確(que)保(bao)對(dui)於(yu)滿(man)足(zu)能(neng)源(yuan)需(xu)求(qiu)和(he)推(tui)動(dong)全(quan)球(qiu)碳(tan)減(jian)排(pai)至(zhi)關(guan)重(zhong)要(yao)。為(wei)實(shi)現(xian)這(zhe)一(yi)目(mu)標(biao),必(bi)須(xu)對(dui)新(xin)材(cai)料(liao)進(jin)行(xing)研(yan)究(jiu)和(he)測(ce)試(shi),使(shi)我(wo)們(men)更(geng)接(jie)近(jin)滿(man)足(zu)能(neng)源(yuan)需(xu)求(qiu)和(he)遵(zun)守(shou)新(xin)效(xiao)率(lv)標(biao)準(zhun)的(de)目(mu)標(biao)。值(zhi)得(de)注(zhu)意(yi)的(de)是(shi),可(ke)通(tong)過(guo)及(ji)時(shi)采(cai)取(qu)行(xing)動(dong)和(he)推(tui)動(dong)功(gong)率(lv)器(qi)件(jian)技(ji)術(shu)的(de)進(jin)步(bu)來(lai)緩(huan)解(jie)彭(peng)博(bo)社(she)預(yu)估(gu)的(de) 27% 的增長率。

應用筆記 – 使用示波器和任意函數發生器對功率半導體器件進行雙脈衝測試– 提供有關此主題的更多詳細信息。
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