【當代材料電學測試】係列之一: 納米測試(下)
發布時間:2021-03-15 來源:泰克科技 責任編輯:lina
【導讀】【當代材料電學測試課堂】係列涉及當代材料科學尖端的電運輸及量子材料/超導材料測試、一維/碳納米管材料測試、二維材料及石墨烯測試及納米材料的應用測試。今天跟您分享第一篇,【當代材料電學測試課堂】係列之一:納米測試(下)。
前言
材料性質的研究是當代材料科學的重要一環,所謂材料的性質是指對材料功能特性和效用的定量度量和描述,即材料對電、磁、光、熱、機械載荷的反應。源表SMU 在當代材料科學研究中,起到舉足輕重的作用,選擇適合某類材料電性能測試的SMU,如ru何he降jiang低di測ce試shi誤wu差cha,測ce試shi中zhong應ying當dang注zhu意yi什shen麼me,這zhe些xie問wen題ti都dou需xu要yao重zhong點dian關guan注zhu。泰tai克ke吉ji時shi利li的de品pin牌pai在zai全quan球qiu許xu多duo學xue科ke工gong程cheng師shi和he科ke學xue家jia中zhong享xiang有you盛sheng譽yu,其qi高gao精jing度du源yuan表biao(SMU)、萬用表、精密電源、微小信號測試以及數據采集產品,同泰克公司原有的產品線一同為當代材料科學研究提供多種測試方案。
【當代材料電學測試課堂】係列涉及當代材料科學尖端的電運輸及量子材料/超導材料測試、一維/碳納米管材料測試、二維材料及石墨烯測試及納米材料的應用測試。今天跟您分享第一篇,【當代材料電學測試課堂】係列之一:納米測試(下)。
納米材料電學測試方案將在本文中闡述,包括《納米線/碳納米管測試方案》、《二維/石墨烯材料測試方案》。納米材料電學測試SMU 應用場景、測試特點及選型原則的示意圖,結合被測納米材料或納米電子器件的類型及測試要點,選擇最適合的SMU。4200 – SCS 幾乎適用於全部種類的納米材料的測試,當然,某些特殊的源表更適合一些特殊的應用
納米線/碳納米管及電子器件測試
納米線(Nano Wire)為一種橫向上被限製在100納米以下(縱向沒有限製)的(de)一(yi)維(wei)材(cai)料(liao)。根(gen)據(ju)組(zu)成(cheng)材(cai)料(liao)的(de)不(bu)同(tong),納(na)米(mi)線(xian)可(ke)分(fen)金(jin)屬(shu)納(na)米(mi)線(xian),半(ban)導(dao)體(ti)納(na)米(mi)線(xian)和(he)絕(jue)緣(yuan)體(ti)納(na)米(mi)線(xian)。作(zuo)為(wei)納(na)米(mi)材(cai)料(liao)的(de)一(yi)種(zhong),納(na)米(mi)線(xian)具(ju)備(bei)上(shang)文(wen)概(gai)述(shu)的(de)納(na)米(mi)材(cai)料(liao)全(quan)部(bu)特(te)性(xing),在(zai)電(dian)子(zi),光(guang)電(dian)子(zi)和(he)納(na)電(dian)子(zi)機(ji)械(xie)器(qi)械(xie)中(zhong),納(na)米(mi)線(xian)起(qi)到(dao)很(hen)重(zhong)要(yao)的(de)作(zuo)用(yong)。它(ta)同(tong)時(shi)還(hai)可(ke)以(yi)作(zuo)為(wei)合(he)成(cheng)物(wu)中(zhong)的(de)添(tian)加(jia)物(wu)、量子器械中的連線、場發射器和生物分子納米感應器等。
I-V 測試是納米線/碳納米管最基本的電性能測試,SMU 是基本測試儀器,不同種類的碳納米管需不同的 SMU 進行測試,SMU選擇依據為:
• 被測樣品所需 SMU 通道數
• 被測樣品是否有脈衝測試需求
• 被測樣品是否有電容測試需求
• 被測樣品電阻範圍,施加或測試的電流範圍以及施加或測試的電壓範圍
納米線/碳納米管及其電子器件綜合測試方案
• 4200A-SCS 主機
• 4200 SMU 模塊,模塊數量由通道數決定
• 4200 PA,選件,依據最小測試電流定,數量與SMU模塊匹配
• 4225 PMU,選件,依據脈衝需求定,模塊數由通道數定,是否加放大器由最小測試電流定
• 4210 CVU,選件,有電容特性測試需求時配置
• 納米探針台(第三方)
• 軟件:Clarius
方案優勢:
• 測試範圍寬,滿足全部種類納米線/碳納米管及其電子器件測試需求
• 多種配置滿足不同的應用需求
• 內置多種納米線/碳納米管器件庫,調用後自動生成相應器件的測試流程
二維/石墨烯材料及電子器件測試
所謂二維材料 (Two dimensional material ),指的是電子僅可在兩個維度的非納米尺度(1-100nm)上自由運動(平麵運動)的材料,屬於納米材料的範疇,包含具有超導、金屬性、半金屬、拓撲絕緣體、半導體、絕緣體的材料。二維材料最為典型的代表是石墨烯,石墨烯是由碳原子組成的二維結構,由於在電學/熱學/光(guang)學(xue)等(deng)方(fang)麵(mian)的(de)優(you)良(liang)特(te)性(xing),被(bei)廣(guang)泛(fan)研(yan)究(jiu)並(bing)使(shi)用(yong)在(zai)這(zhe)個(ge)領(ling)域(yu)。在(zai)半(ban)導(dao)體(ti)特(te)性(xing)上(shang),石(shi)墨(mo)烯(xi)具(ju)有(you)優(you)良(liang)的(de)導(dao)電(dian)特(te)性(xing)及(ji)易(yi)摻(chan)雜(za)改(gai)性(xing)的(de)特(te)性(xing),因(yin)此(ci)被(bei)用(yong)來(lai)製(zhi)作(zuo)為(wei)各(ge)種(zhong)半(ban)導(dao)體(ti)器(qi)件(jian),如(ru)零(ling)帶(dai)隙(xi)、頂ding柵zha石shi墨mo烯xi場chang效xiao應ying管guan,雙shuang層ceng石shi墨mo烯xi晶jing體ti管guan,雙shuang極ji超chao導dao石shi墨mo烯xi晶jing體ti管guan,石shi墨mo烯xi納na米mi帶dai場chang效xiao應ying管guan等deng。在zai應ying用yong上shang可ke作zuo為wei穿chuan戴dai設she備bei,傳chuan感gan器qi,充chong電dian設she備bei等deng。
對二維/石墨烯材料,通常使用四探針法或範德堡法測試電阻率,用霍爾效應測測試載流子遷移率及載流子濃度。
二維/石墨烯材料及電子器件電性能測試挑戰
• 二維/石墨烯材料屬於納米材料範疇,上文中討論的測試挑戰對二維/石墨烯材料都適用。
• 電(dian)阻(zu)率(lv)及(ji)霍(huo)爾(er)效(xiao)應(ying)測(ce)試(shi)均(jun)是(shi)加(jia)流(liu)測(ce)壓(ya)的(de)過(guo)程(cheng),需(xu)要(yao)設(she)備(bei)能(neng)輸(shu)出(chu)電(dian)流(liu)並(bing)且(qie)測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya),這(zhe)意(yi)味(wei)著(zhe)同(tong)時(shi)需(xu)要(yao)電(dian)流(liu)源(yuan)和(he)電(dian)壓(ya)表(biao),並(bing)且(qie)電(dian)流(liu)源(yuan)和(he)電(dian)壓(ya)表(biao)精(jing)度(du)要(yao)高(gao),保(bao)證(zheng)測(ce)試(shi)的(de)準(zhun)確(que)性(xing)。
• 電阻率及電子遷移率通常範圍較大,需要電流電壓範圍都很大的設備。
• 需與探針台配合,測試設備需方便連接,需易用的軟件
• 霍爾效應測試時,通常要準備霍爾條(Hall Bar)

高性價比測試方案1:
· 6221高精度脈衝電流源
· 2182納伏表
· 7168開關卡
· 探針台(第三方)
· 軟件:自行開發
方案優勢
· 性價比高
· 具有脈衝電流
· Delta 模式
· 被測樣品電阻適用範圍廣(uΩ ~ TΩ)
· 納伏開關卡不影響測試精度

高性能測試方案2:
· 4200A-SCS +4200 SMU X 3 或 4
· 4200 PA X 3 或 4
· 測試台 (第三方)
· 軟件:Clarius
方案優勢:
· SMU模塊集電壓源/電壓表/電流源/電流表於一體,集成度高,方便使用
· SMU均配有開爾文接口,在測試小電阻時可有效消除線纜電阻的影響
· 電流輸出精度40fA;電流測試精度10fA;電壓測試精度80µV;
· 帶有pulse工作模式,使用pulse測試可以消除自加熱效應 (需增加 4225 PMU 硬件)
· Clarius軟件可調用內置Project,不僅適用於針對二維/石墨烯材料的四探針,範德堡,霍爾效應測試,也適用於二維/石墨烯電子器件 I-V C-V 特性測試(C-V 特性測試時需添加 4210 CVU 硬件)
· 開放設備底層指令,附帶編譯軟件,支持自編程
納米發電測試方案
納米發電機是基於規則的氧化鋅納米線,在納米範圍內將機械能轉化成電能,是世界上最小的發電機。目前納米發電機可以分為三類:壓電納米發電機、摩擦納米發電機、熱釋電納米發電機。
納米發電麵臨的測試挑戰
1. 發電機產生的電流小
2. 發電機的內阻大,開路電壓測不準
3. 信號變化快,很難采集電壓或者電流峰值
泰克納米發電測試方案
采用高內阻的靜電計6517+數據采集儀DMM6500+納(na)米(mi)發(fa)電(dian)采(cai)集(ji)軟(ruan)件(jian)來(lai)進(jin)行(xing)微(wei)小(xiao)納(na)米(mi)發(fa)電(dian)電(dian)流(liu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)。由(you)於(yu)現(xian)在(zai)納(na)米(mi)發(fa)電(dian)機(ji)中(zhong)有(you)一(yi)部(bu)分(fen)已(yi)經(jing)轉(zhuan)向(xiang)實(shi)際(ji)應(ying)用(yong)研(yan)究(jiu),其(qi)中(zhong)之(zhi)一(yi)就(jiu)有(you)壓(ya)力(li)傳(chuan)感(gan)方(fang)向(xiang),而(er)矩(ju)陣(zhen)式(shi)壓(ya)力(li)傳(chuan)感(gan)器(qi)的(de)測(ce)試(shi)是(shi)很(hen)多(duo)老(lao)師(shi)和(he)同(tong)學(xue)比(bi)較(jiao)頭(tou)疼(teng)的(de)一(yi)個(ge)問(wen)題(ti),為(wei)了(le)解(jie)決(jue)這(zhe)類(lei)問(wen)題(ti),根(gen)據(ju)要(yao)求(qiu)搭(da)建(jian)了(le)一(yi)個(ge)測(ce)試(shi)方(fang)案(an)如(ru)下(xia):

方案優勢:
· 納米發電研究領域推薦測試方案
· 優異的小心測試能力
· 定製化軟件,更快,更簡單,更專業
· 可升級,滿足研究將來的測試需求
(來源:泰克科技)
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