為逐次逼近型ADC 設計可靠的數字接口
發布時間:2015-03-14 責任編輯:susan
【導讀】逐次逼近型模數轉換器(因其逐次逼近型寄存器而稱為SAR ADC)廣泛運用於要求最高18 位分辨率和最高5 MSPS 速率的應用中。其優勢包括尺寸小、功耗低、無流水線延遲和易用。主機處理器可以通過多種串行和並行接口(如SPI、I2C 和LVDS)訪問或控製ADC。本文將討論打造可靠、完整數字接口的設計技術,包括數字電源電平和序列、啟動期間的I/O 狀態、接口時序、信號質量以及數字活動導致的誤差。
數字I/O 電源電平和序列
M多數SAR ADC 都提供獨立的數字I/O 電源輸入(VIO 或VDRIVE),後者決定接口的工作電壓和邏輯兼容性。此引腳應與主機接口(MCU、DSP 或FPGA)電源具有相同的電壓。數字輸入一般應在DGND − 0.3 V 與VIO + 0.3 V 之間,以避免違反絕對最大額定值。須在VIO 引腳與DGND 之間連接走線短的去耦電容。
采用多個電源的ADC 可能擁有明確的上電序列。應用筆記 AN-932《電源時序控製》為這些ADC 電源的設計提供了良好的參考。為了避免正向偏置ESD 二極管,避免數字內核加電時處於未知狀態,要在接口電路前打開I/O 電源。模擬電源通常在I/O電源之前加電,但並非所有ADC 均是如此。請參閱並遵循數據手冊中的內容,確保序列正確。
啟動期間的數字I/O 狀態
為了確保初始化正確無誤,有些SAR ADC 要求處於某些邏輯狀態或序列,以實現複位、待機或關斷等數字功能。在所有電源都穩定之後,應施加指定脈衝或組合,以確保ADC 啟動時的狀態符合預期。例如,一個高脈衝在RESET 上持續至少50 ns,這是配置 AD7606 以使其在上電後能正常運行所必須具備的條件。
在所有電源均完全建立之前,不得切換數字引腳。對於SAR ADC,轉換開始引腳CNVST 可能對噪聲敏感。在圖1 所示示例中,當AVCC、DVCC 和VDRIVE 仍在上升時,主機cPLD 拉高CNVST。這可能使 AD7367 進入未知狀態,因此,在電源完全建立之前,主機應使 CNVST 保持低電平。

圖1. 在電源上升時拉高 CNVST 可能導致未知狀態。
數字接口時序
轉換完成之後,主機可以通過串行或並行接口讀取數據。為了正確讀取數據,須遵循特定的時序策略,比如,SPI 總線需要采用哪種模式等。不得違反數字接口時序規範,尤其是ADC 和主機的建立和保持時間。最大比特率取決於整個循環,而不僅僅是最小額定時鍾周期。圖2 和下列等式展示了如何計算建立和保持時間裕量。主機把時鍾發送至ADC 並讀取ADC 輸出的數據。

圖2. 建立和保持時序裕量
tCYCLE = tJITTER + tSETUP + tPROP_DATA + tPROP_CLK + tDRV + tMARGIN
tCYCLE : 時鍾周期 = 1/fCLOCK
tJITTER: 時鍾抖動
tSETUP: 主機建立時間
tHOLD: 主機保持時間
tPROP_DATA: 從ADC 到主機的傳輸線路的數據傳播延遲
tPROP_CLK: 從主機到ADC 的傳輸線路的數據傳播延遲
tDRV: 時鍾上升/下降沿後的數據輸出有效時間
tMARGIN: Margin time, ≥ 裕量時間大於等於0 表示達到建立時間或保持時間要 求,小於0 表示未達到建立時間或保持時間要求。
主機建立時間裕量
tMARGIN_SETUP = tCYCLE, min – tJITTER – tSETUP – tPROP_DATA – tPROP_CLK – tDRV, MAX
建立時間等式以最大係統延遲項定義最小時鍾周期時間或最大頻率。要達到時序規格,必須大於等於0。提高周期(降低時鍾頻率)以解決係統延遲過大問題。對於緩衝器、電平轉換器、隔離器或總線上的其他額外元件,把額外延遲加入tPROP_CLK 和tPROP_DATA。
tMARGIN_HOLD = tPROP_DATA + tPROP_CLK + tDRV – tJITTER – tHOLD
保持時間等式規定了最小係統延遲要求,以避免因違反保持時間要求而出現邏輯錯誤。要達到時序規格,必須大於等於0。
ADI 公司帶SPI 接口的許多SAR ADC 都是從 CS 或CNV 的下降沿為MSB 提供時鍾信號,剩餘的數據位則跟隨SCLK 的下降沿,如圖3 所示。在讀取MSB 數據時,要使用等式中的tEN 而非tDRV。

圖3. AD7980 3 線 CS 模式下的SPI 時序。
因此,除了最大時鍾速率以外,數字接口的最大工作速率也取決於建立時間、保持時間、數據輸出有效時間、傳播延遲和時鍾抖動。
在圖4 中,DSP 主機訪問 AD7980 處於3 線 CS 模式下,其中,VIO = 3.3 V。DSP 鎖存SCLK 下降沿上的SDO 信號。DSP 的額定最小建立時間為5 ns,最小保持時間為2 ns。對於典型的FR-4PCB 板,傳播延遲約為180 ps/in。緩衝器的傳播延遲為5 ns。CNV、SCLK 和SDO 的總傳播延遲為
tprop = 180 ps/in × (9 in + 3 in) + 5 ns = 7 ns.
tJITTER = 1 ns. 主機SCLK 的工作頻率為30 MHz,因此, tCYCLE = 33 ns.
tSETUP_MARGIN = 33 ns − 1 ns – 5 ns – 7 ns – 11 ns – 7 ns = 2 ns
tHOLD_MARGIN =11 ns + 7 ns + 7 ns – 1 ns – 2 ns = 22 ns
建立時間和保持時間裕量均為正,因此,SPI SCLK 可以在30 MHz 下工作。

圖4. DSP 和AD7980 之間的數字接口
數字信號質量
數字信號完整性(包括時序和信號質量)確保:在額定電壓下接收信號;不相互幹擾;不損壞其他器件;不汙染電磁頻譜。信號質量由多個項定義,如圖5 所示。本部分將介紹過衝、振鈴、反射和串擾。

圖5. 常用信號質量規格
反fan射she是shi阻zu抗kang不bu匹pi配pei導dao致zhi的de結jie果guo。當dang信xin號hao沿yan著zhe走zou線xian傳chuan播bo時shi,每mei個ge接jie口kou處chu的de瞬shun時shi阻zu抗kang都dou不bu相xiang同tong。部bu分fen信xin號hao會hui反fan射she回hui去qu,部bu分fen信xin號hao會hui繼ji續xu沿yan著zhe線xian路lu傳chuan播bo。反fan射she可ke能neng在zai接jie收shou器qi端duan產chan生sheng過guo衝chong、欠衝、振鈴和非單調性時鍾邊沿
過衝和欠衝可能損壞輸入保護電路,或者縮短IC 的使用壽命。圖6 所示為 AD7606 的絕對最大額定值。數字輸入電壓應在–0.3 V 和VDRIVE + 0.3 V 之間。另外,如果振鈴高於最大VIL 或小於最小VIH 可能導致邏輯誤差。

圖6. AD7606 的絕對最大額定值
為了減少反射:
盡量縮短走線的長度
控製走線的特性阻抗
消除分支
使用適當的端接方案
用環路麵積小的固體金屬作為返回電流參考平麵
使用較低的驅動電流和壓擺率
針對走線特性阻抗的計算,目前有許多軟件工具或網站,比如Polar Instruments Si9000 PCB 傳(chuan)輸(shu)線(xian)路(lu)場(chang)求(qiu)解(jie)器(qi)。借(jie)助(zhu)這(zhe)些(xie)工(gong)具(ju),特(te)性(xing)阻(zu)抗(kang)計(ji)算(suan)起(qi)來(lai)非(fei)常(chang)簡(jian)單(dan),隻(zhi)需(xu)選(xuan)擇(ze)傳(chuan)輸(shu)線(xian)路(lu)型(xing)號(hao)並(bing)設(she)置(zhi)相(xiang)應(ying)的(de)參(can)數(shu)即(ji)可(ke),比(bi)如(ru)電(dian)介(jie)質(zhi)類(lei)型(xing)和(he)厚(hou)度(du)以(yi)及(ji)走(zou)線(xian)寬(kuan)度(du)、厚度和隔 離。
作為一種新興標準,IBIS 用於描述IC 數字I/O 的模擬行為。ADI提供針對SAR ADC 的IBIS 模型。預布局仿真可檢測時鍾分布、芯片封裝類型、電路板堆疊、網絡拓撲結構和端接策略。也可檢測串行接口時序限製以便為定位和布局提供指導。後仿真可驗證 設計是否符合所有指導方針和限製的要求,同時檢測是否存在反射、振鈴、串擾等違反要求的情況。
在圖7 中,一個驅動器通過一條12 英寸的微帶線路連接SCLK1,另一個驅動器通過一個與微帶串聯的43 Ω 電阻連接SCLK2。

圖7. 驅動AD7606 SCLK
在圖8 中,SCLK1 上的大過衝違反了–0.3 V 至+3.6 V 的絕對最大額定值。串聯電阻可減小SCLK2 上的壓擺率,使信號處於額定值之內。

圖8. AD7606 IBIS 過衝模型仿真
串擾是能量通過互電容(電場)或互感(磁場)在並行傳輸線路間耦合的情況。串擾量取決於信號的上升時間、並行線路的長度以及它們之間的間距。
控製串擾的一些常用方法為:
增加線路間距
減小並行布線
使走線靠近參考金屬平麵
使用適當的端接方案
減小信號壓擺率
數字活動導致的性能下降
數字活動可能導致SAR ADC 性能下降,使SNR 因數字地或電源噪聲、采樣時鍾抖動和數字信號幹擾而減小。
孔徑或采樣時鍾抖動設定SNR 限值,尤其是對高頻輸入信號。係統抖動有兩個來源:來自片內采樣保持電路的孔徑抖動(內部抖動),以及采樣時鍾上的抖動(外部抖動)。孔徑抖動為轉換間的 采樣時間變化,為ADC 的函數。采樣時鍾抖動通常為主要誤差源,但兩個源都會導致模擬輸入采樣時間變化,如圖9所示。它們的影響難以區分。
總抖動會產生誤差電壓,ADC 總SNR 的限製因素為

其中,f 為模擬輸入頻率,tJ 為總時鍾抖動。
例如,當模擬輸入為10 kHz,總抖動為1 ns 時,SNR 限值為84 dB。

圖9. 采樣時鍾抖動導致的誤差電
數字輸出開關導致的電源噪聲應與敏感的模擬電源相隔離。分別去耦模擬和數字電源,密切注意地回流路徑。
高精度SAR ADC kenengduishuzijiekoushangdehuodonghenmingan,jishidianyuanshidangquouhegelishi。tufashizhongwangwangyouyulianxushizhong。shujushoucetongchanghuiliechujiekoubuyinghuodongdeanjingshijian。zaijiaogaotuntusulvtiaojianxia,kenengnanyijianshaozhexieshijianneideshuzihuodong,tongchangweicaiyangshikejichuxianguanjianweipanduandianshi。
結論
密切注意數字活動,確保SAR ADC 轉換有效。數字活動導致的誤差可能使SAR ADC 進入未知狀態,導致故障,或者降低性能。希望本文能幫助設計師排查根本原因,同時還能提供解決方案。
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