中心議題：

• CMOS電路IDDQ測試電路設計

解決方案：

• IDDQ靜態電流測試方法
• 用Pspice進行了晶體管級模擬

 引言
   
測試CMOSdianludefangfayouhenduozhong，ceshiluojiguzhangdeyibanfangfashicaiyongluojixiangyingceshi
，jitongchangsuoshuodegongnengceshi。gongnengceshikezhenduanchuluojicuowu，danbunengjianzhachujingtiguanchangkaiguzhang


、晶體管常閉故障、晶jing體ti管guan柵zha氧yang化hua層ceng短duan路lu，互hu連lian橋qiao短duan路lu等deng物wu理li缺que陷xian引yin發fa的de故gu障zhang，這zhe些xie缺que陷xian並bing不bu會hui立li即ji影ying響xiang電dian路lu的de邏luo輯ji功gong能neng，通tong常chang要yao在zai器qi件jian工gong作zuo一yi段duan時shi間jian後hou才cai會hui影ying響xiang其qi邏luo輯ji功gong能neng。
   
功(gong)能(neng)測(ce)試(shi)是(shi)基(ji)於(yu)邏(luo)輯(ji)電(dian)平(ping)的(de)故(gu)障(zhang)檢(jian)測(ce)

，通(tong)過(guo)測(ce)量(liang)原(yuan)始(shi)輸(shu)出(chu)的(de)電(dian)壓(ya)來(lai)確(que)定(ding)邏(luo)輯(ji)電(dian)平(ping)，因(yin)此(ci)功(gong)能(neng)測(ce)試(shi)實(shi)際(ji)上(shang)是(shi)電(dian)壓(ya)測(ce)試(shi)。電(dian)壓(ya)測(ce)試(shi)對(dui)於(yu)檢(jian)測(ce)固(gu)定(ding)型(xing)故(gu)障(zhang)
，特(te)別(bie)是(shi)雙(shuang)極(ji)型(xing)工(gong)藝(yi)中(zhong)的(de)固(gu)定(ding)型(xing)故(gu)障(zhang)是(shi)有(you)效(xiao)的(de)，但(dan)對(dui)於(yu)檢(jian)測(ce)CMOS工藝中的其他類型故障則顯得有些不足，而這些故障類型在CMOS電路測試中卻是常見的。對於較大規模電路，電壓測試測試集的生成相當複雜且較長，需要大量的實驗數據樣本。
   
IDDQ測試是對功能測試的補充。通過測試靜態電流IDDQ可檢測出電路中的物理缺陷所引發的故障。IDDQ測試還可以檢測出那些尚未引起邏輯錯誤，但在電路初期會轉換成邏輯錯誤的缺陷。本文所設計的IDOQ電流測試電路對CMOS被bei測ce電dian路lu進jin行xing檢jian測ce，通tong過guo觀guan察cha測ce試shi電dian路lu輸shu出chu的de高gao低di電dian平ping可ke知zhi被bei測ce電dian路lu是shi否fou有you物wu理li缺que陷xian。測ce試shi電dian路lu的de核he心xin是shi電dian流liu差cha分fen放fang大da電dian路lu，其qi輸shu出chu一yi個ge與yu被bei測ce電dian路luIDDQ電流成正比的輸出。測試電路串聯在被測電路與地之間
，以檢測異常的IDDQ電流。

1 IDDQ測試原理
   
電流IDDQ是指當CMOS集成電路中的所有管子都處於靜止狀態時的電源總電流。對於中小規模集成電路，正常狀態時無故障的電源總電流為微安數量級；當電路出現橋接或柵源短接等故障時

，會在靜態CMOS電路中形成一條從正電源到地的低阻通路，會導致電源總電流超過毫安數量級。所以靜態電源電流IDDQ測試原理是：無故障CMOS電路在靜態條件下的漏電流非常小
，而故障條件下漏電流變得非常大

，可以設定一個閾值作為電路有無故障的判據。
   
CMOS集成電路不論其形式和功能如何，都可以用一個反向器的模型來表示。IDDQ測試電路框圖如圖1所示
，電路IDDQ檢測結果為一數字輸出(高低電平)。測試電路中電流差分放大電路的輸出與被測電路的IDDQ成正比。測試電路串聯在電源、被測電路與地中間
，以檢測異常的IDDQ電流。為了實現測試，需要增加兩個控製端和一個輸出端。 [page]
2 測試電路設計

2．1 電路設計
   
圖2所示為CMOS測試電路
，其由1個電流差分放大電路(T2
，T3)
、2個鏡像電流源(T1，T2和T3，T4)和1個反相器(T7，T8)組成。鏡像電流源(T1
，T2)用來產生一個參考電流IREF，電流源(T3，T4)的電流為(IDDQ-IREF)
，其作用相當於一個電流比較器。IDDQ是被測電路的電源電流。差分放大電路(T2，T3)計算出參考電流與被測電路異常電流IDDQ的差。參考電流IREF的值設為被測電路正常工作時的靜態電源電流
，其取值可通過統計分析求出。 2．2 工作模式
   
測試電路工作於兩種模式：正常工作模式和測試模式。電路使能端E作為管子T0的輸入，用來控製測試電路與被測電路的連接和斷開，即測試電路的工作模式。
   
在正常工作模式下(E=1)，T0導通，IDDQ經T0管到地
，測試電路與被測電路斷開，被測電路不會受到測試電路的影響。
   
在測試模式下(E=0)
，T0管截止，被測電路的靜態電流IDDQ與參考電流IREF比較，如果靜態電流比參考電流大

，則電流差分放大電路計算出差值，反向器的輸出即測試輸出為高電平(邏輯1)，表明被測電路存在缺陷。若靜態電流比參考電流小，反向器輸出即測試輸出為低電平(邏輯0)
，表明被測電路無缺陷。

2．3 不足與改進
   
因為測試電路加在被測電路與地之間，所以會導致被測電路的性能有所下降。為了消除這種影響，另外加上控製端X。在正常工作模式情況下，X端接地，測試電路與被測電路分離，測試電路對被測電路無任何影響。在測試模式下，X端懸空
，E端接地

，T0管截止
，測試電路進行測試。
   
在測試模式下，X端懸空
，E端接低電平，若電路有缺陷
，測試輸出為高電平。但是被測電路輸入跳變時

，被測電路無缺陷，也會產生一較大的動態峰值電流IDDQ。為wei了le避bi免mian出chu現xian誤wu判pan斷duan，在zai此ci種zhong情qing況kuang下xia，測ce試shi電dian路lu應ying輸shu出chu為wei低di電dian平ping。所suo以yi在zai被bei測ce試shi電dian路lu輸shu入ru變bian化hua後hou，必bi須xu在zai瞬shun態tai電dian流liu達da到dao穩wen定ding時shi才cai可ke進jin行xingIDDQ測試。

3 結語
   
本文所設計的IDDQ測試電路由一個電流差分放大電路、電流源
、反相器組成。在正常工作模式下
，測試電路與被測電路斷開；在測試模式下，電流差分放大電路計算出被測電路電流與參考電流的差，反相器輸出是否有缺陷的高低電平信號。測試電路用了7個管子和1個反相器，占用麵積小
，用Pspice進行了晶體管級模擬，結果證明了其有效性。IDDQ測(ce)試(shi)的(de)缺(que)點(dian)是(shi)隨(sui)著(zhe)特(te)征(zheng)尺(chi)寸(cun)的(de)縮(suo)小(xiao)，每(mei)個(ge)晶(jing)體(ti)管(guan)閾(yu)值(zhi)漏(lou)電(dian)流(liu)的(de)增(zeng)加(jia)，電(dian)路(lu)設(she)計(ji)中(zhong)門(men)數(shu)的(de)增(zeng)加(jia)

，電(dian)路(lu)總(zong)的(de)泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)也(ye)在(zai)增(zeng)加(jia)，這(zhe)樣(yang)分(fen)辨(bian)間(jian)距(ju)會(hui)大(da)大(da)縮(suo)小(xiao)，當(dang)出(chu)再(zai)重(zhong)疊(die)時(shi)就(jiu)很(hen)難(nan)進(jin)行(xing)有(you)效(xiao)的(de)故(gu)障(zhang)檢(jian)測(ce)和(he)隔(ge)離(li)。但(dan)盡(jin)管(guan)如(ru)此(ci)
，由(you)於(yu)IDDQ測試電路的簡易性非常突出

，所以它仍然是目前可測性測試技術的研究熱點。