I2C總線是PHLIPS公司推出的一種串行總線，是具備多主機係統所需的包括總線裁決和高低速器件同步功能的高性能串行總線。I2C總線用於連接微控製器及其外圍設備。

 

圖1.I2C器件選擇

 

物理結構上，I2C總線隻有兩根雙向信號線，一根是數據線SDA

，另一根是時鍾線SCL。

SCL（串行時鍾線）：上升沿將數據輸入到每個EEPROM器件中
；下降沿驅動EEPROM器件輸出數據。

SDA（串行數據線）：雙向數據線，為OD門，與其它任意數量的OD與OC門成“線與”關係。

 

圖2.I2C總線內部結構

 

I2C總(zong)線(xian)通(tong)過(guo)上(shang)拉(la)電(dian)阻(zu)接(jie)正(zheng)電(dian)源(yuan)。當(dang)總(zong)線(xian)空(kong)閑(xian)時(shi)
，兩(liang)根(gen)線(xian)均(jun)為(wei)高(gao)電(dian)平(ping)。連(lian)到(dao)總(zong)線(xian)上(shang)的(de)任(ren)一(yi)器(qi)件(jian)輸(shu)出(chu)的(de)低(di)電(dian)平(ping)，都(dou)將(jiang)使(shi)總(zong)線(xian)信(xin)號(hao)變(bian)低(di)，即(ji)各(ge)器(qi)件(jian)的(de)SDA及SCL都是線“與”關係。

 

I2C有三種速率，如下：

普通模式（100kHz）
；

快速模式（400kHz）
；

高速模式（3.4MHz）。

 

 

I2C總線進行數據傳送時
，時鍾信號SCL為高電平期間，數據線SDA上的數據必須保持穩定，隻有在時鍾線SCL上的信號為低電平期間，數據線SDA上的高電平或低電平狀態才允許變化，如圖3所示。

  

圖3.數據有效性

 

 

ZDS4000 Plus係列示波器是行業內首個標配I2C時序分析軟件的示波器，該分析軟件適用於所有應用I2C總(zong)線(xian)產(chan)品(pin)的(de)硬(ying)件(jian)測(ce)試(shi)，特(te)別(bie)是(shi)批(pi)量(liang)產(chan)品(pin)的(de)硬(ying)件(jian)測(ce)試(shi)。傳(chuan)統(tong)的(de)測(ce)試(shi)方(fang)法(fa)，需(xu)要(yao)人(ren)工(gong)定(ding)位(wei)每(mei)一(yi)項(xiang)參(can)數(shu)並(bing)單(dan)獨(du)卡(ka)光(guang)標(biao)測(ce)量(liang)，平(ping)均(jun)測(ce)試(shi)一(yi)組(zu)數(shu)據(ju)的(de)時(shi)間(jian)約(yue)為(wei)30~60分鍾，不僅效率低，而且容易引入讀數誤差甚至錯誤。

 

使用I2C時序分析軟件，它能夠在極短的時間內完成總線信號的DC特性和AC特性分析，並與器件手冊標稱參數做對比，直接輸出測試結果（Pass/Fail），同時支持報表導出
，省去人工錄入數據的煩惱，極大的提升測試效率。具體測試界麵如下圖4所示。

 

圖4.I2C時序分析界麵

 

 

I2C時序除了要分析其解碼情況，還需驗證是其否滿足I2C的AC特性標準
，I2C時序分析功能測試參數及手冊標稱如表1所示

，包括時鍾頻率、起始信號/數據信號建立時間
、起始信號/數據信號保持時間、時鍾低/高電平時間和總線空閑時間等十幾項測試參數。

 

 

下圖5中黃色部分為測試項目所對應的測試具體位置。

 

圖5.I2C測試項目

 

 

此次測試選用標配有I2C時序分析軟件的ZDS4054 Plus示波器進行測試。如圖6所示為I2C時序分析參數設置界麵，包含總線設置和參數設置，根據測試的標準用戶可自行調節參數的數值。

 

圖6.參數設置界麵

 

l總線電平：即輸入電壓Vcc
，一般的I2C輸入電壓為3.30V，若為其他輸入電壓值也可通過旋鈕A對其進行調節。總線電平Vcc的調節將會影響VIL和VIH 的值，Vcc與VIL 、VIH存在如表2所示的關係。

 

l輸入的高電平/低電平電壓（VIH 
、VIL）：兩者輸入的值由Vcc決定
，滿足表2所示的關係，也可以通過旋鈕A對其進行調節，它們值的變化將不會影響Vcc值的變化。

 

設置完參數後點擊【返回】可查看到測試分析的結果，如下圖7所示。

 

圖7.I2C時序分析

 

 

如圖8所示：

 

l通過觀察測試表中的測量參數，若所測量的參數符合測試標準則通過測試
，顯示為“Pass”
；

l若不符合設定的標準則不通過測試
，顯示為“Fail”；

l若測試表中顯示“No Test”則(ze)表(biao)示(shi)找(zhao)不(bu)到(dao)測(ce)試(shi)信(xin)號(hao)，此(ci)時(shi)可(ke)調(tiao)整(zheng)示(shi)波(bo)器(qi)水(shui)平(ping)時(shi)基(ji)，使(shi)示(shi)波(bo)器(qi)的(de)屏(ping)幕(mu)上(shang)盡(jin)可(ke)能(neng)出(chu)現(xian)幾(ji)幀(zhen)甚(shen)至(zhi)十(shi)幾(ji)幀(zhen)的(de)波(bo)形(xing)，有(you)利(li)於(yu)對(dui)多(duo)點(dian)進(jin)行(xing)測(ce)試(shi)分(fen)析(xi)和(he)比(bi)較(jiao)。

l在測試表的最下方將顯示最終的整體測試效果，若完全通過測試則顯示“Pass”，若有一項不通過測試，則為“Fail”。   

 

圖8.I2C時序測試結果

 

在測試列表中旋轉旋鈕B可查看測試表中的參數測試結果
，需要查看某一項參數測試細節可通過旋鈕B選中後短按旋鈕B
，此時屏幕中的縮放窗口將跳轉至所選數據的測試部位
，如圖9所示。

 

圖9.數據分析

 

測試完成後可對所測試的波形和數據進行導出，導出的“網頁報表”文件可使用網頁打開，導出的“CSV”文件可使用Excel打開。