晶振起振問題，晶振的負載電容匹配可能不合適，導致晶振不起振。

 

 

係統工作偶爾不正常。

 

最(zui)近(jin)在(zai)一(yi)個(ge)項(xiang)目(mu)中(zhong)

，遇(yu)到(dao)一(yi)個(ge)很(hen)奇(qi)怪(guai)的(de)問(wen)題(ti)。係(xi)統(tong)偶(ou)爾(er)會(hui)不(bu)工(gong)作(zuo)。而(er)且(qie)跑(pao)了(le)四(si)個(ge)周(zhou)的(de)係(xi)統(tong)，中(zhong)間(jian)出(chu)現(xian)過(guo)一(yi)次(ci)。後(hou)來(lai)不(bu)知(zhi)道(dao)怎(zen)麼(me)恢(hui)複(fu)了(le)。當(dang)今(jin)天(tian)再(zai)次(ci)遇(yu)到(dao)
，感(gan)覺(jiao)這(zhe)種(zhong)情(qing)況(kuang)

，肯(ken)定(ding)是(shi)哪(na)裏(li)有(you)問(wen)題(ti)
，不(bu)可(ke)能(neng)是(shi)運(yun)氣(qi)使(shi)然(ran)。

 

這裏將問題最終歸結到晶振上，是因為問題的可重複性。

 

在第一次出現時，盡管在其他地方都進行過測量，但是沒有懷疑到晶振上
，所以一直沒有將問題再次重現(後來莫名係統恢複了正常)。

 

如果

，問題沒有重現
，就無法分析問題。因為可能的地方太多。

 

而這次問題再次出現時
，隻有當在晶振上觸碰時，問題得到了重現，因此證明跟晶振這裏有問題。

 

1、測試分析過程：

2
、首先萬用表測量AD輸出引腳（串行輸出，連接MCU），AD輸出端沒有轉換完成信號（一個下降沿）出現。

3
、這個時候，如果人為將AD輸出端拉低
，係統工作正常。

4、所以，MCU端應該沒有出現異常。

5、但是，AD端很長一段時間都是工作正常的，為什麼突然工作出現了異常。

6、在用示波器測試了各個地方之後，最終懷疑到了晶振上。

7、當將示波器探頭放到XTAL1上時，係統恢複正常工作。如果將探頭拿下，則係統不再工作。

8、由此斷定
，係統工作異常的原因，出現在晶振起振上。

9、後來先將負載電容調大一些，發現依然無法起振。

10
、之後將負載電容調小了一些，晶振起振。係統恢複正常工作。

 

注：
 

對dui於yu晶jing振zhen引yin起qi的de問wen題ti很hen多duo時shi候hou很hen難nan發fa現xian，這zhe個ge要yao十shi分fen注zhu意yi。當dang其qi他ta地di方fang，都dou檢jian測ce過guo沒mei有you之zhi後hou
，可ke能neng就jiu要yao考kao慮lv晶jing振zhen問wen題ti了le。並bing聯lian電dian容rong，接jie地di，晶jing振zhen不bu良liang率lv
，都dou有you可ke能neng導dao致zhi晶jing振zhen起qi振zhen出chu現xian問wen題ti。