力科發布8端口和12端口信號完整性網絡分析儀SPARQ
發布時間:2012-01-17 來源:力科
網絡分析儀SPARQ的產品特性:
- 快速測量S參數
網絡分析儀SPARQ的應用範圍:
- 智能手機
- 通信廣電
力科公司近日正式發布8端口和12端口係列的信號完整性網絡分析儀SPARQ。SPARQ使得S參數測量變得更加快捷且價格隻有網絡分析儀(VNA)的幾分之一。使用8端口或者12端口的SPARQ,信號完整性工程師將能夠對多鏈路差分結構的產品的串擾特征進行分析。
高速多鏈路串行數據信號正得到市場的廣泛應用,這給設計工程師帶來了很多新的挑戰。使用傳統的網絡分析儀來測量8端口或者12端口的S參數會非常昂貴而且耗時間。因此工程師需要更合適且買得起的測試工具。力科新的SPARQ價格隻有功能較少的矢量網絡分析儀(VNA)的幾分之一。比如說,12端口SPARQ的價格和4端口的VNA的價格相當。所有的SPARQ使用一套內置的OSLT校準件,這使得使用者能夠快速的校準分析並測量被測件,而不需要使用容易發生錯誤的外部標準校準件。這意味著使用者可以在大約30分鍾內完成所有12端口S參數的測量,而其中還有一大部分是我們不必關注的采集和計算時間。
多鏈路串行數據係統中的串擾問題需要12端口S參數
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當使用4端口網絡分析儀時,信號完整性工程師隻能夠測量一對差分鏈路的S參數。然而,這些測量隻表征了一部分電路的行為特征,而不能夠表征鏈路之間的串擾。使用力科的SPARQ-3012E,隻需點擊一個按鈕,使用者即能夠測量完整的12端口S參數矩陣,包括單端模式以及混合模式。S參數結果描述了多達三對差分鏈路的近端串擾(NEXT)和遠端串擾(FEXT),該S參數矩陣可被用於侵害-受害-侵害模型以預測電路性能以及用於使眼圖張開的發送端和接收端的均衡調整。新的SPARQ的標稱截止頻率為30GHz,且能夠將S參數結果恢複到40GHz,這使得SPARQ廣泛適用於大部分多鏈路的串行數據標準的串擾測量。
SPARQ:快速測量S參數
8端口和12端口的SPARQ是力科在2010年9月發布的信號完整性網絡分析儀SPARQ係列的延伸。SPARQ是專門針對信號完整性應用的更專業產品,使用TDR/TDT的原理和技術來測量無源器件的S參數。SPARQ使用者將SPARQ連接到他們的被測DUT和他們的PC,PC用於運行SPARQ應用軟件。設好端口數、測量點數以及截至頻率後,隻需點擊“Go”按鈕即開始快速的測量。SPARQ使用內置的OSLT校準件在大約1分鍾內完成SPARQ的自動化校準,然後即開始測量,而無需在校準件和被測DUT之間進行反複的連接/斷開操作步驟。通過自動執行校準,使用人員避免了枯燥的和容易出錯的校準VNA的步驟。使用12端口SPARQ實現一次包括校準在內的完整的測量,隻需要大概約30分鍾。“預覽”模式的12端口測試結果隻需要大約10分鍾。測試結果可以保存為標準的Touchstone 1.0文件,該文件可以用於仿真軟件,或者測試儀器,如力科的高達60GHz帶寬、最多20個輸入通道的WaveMaster和LabMaster係列示波器。使用者能夠使用測量得到的S參數模型實現通道仿真或者夾具反嵌,並測量多條串行數據鏈路的眼圖、抖動和串擾。
SPARQ-簡易的設計
SPARQ分析儀被特別設計成一款更容易購買和更容易使用的儀器。他們小巧、輕便、易於移動,從而任何一個工程師都能夠順利的使用它,SPARQ用戶不需要高層次的專業知識,而VNA的使用和校準則需要使用人員具有很強的專業知識背景才能夠順利且正確的使用。且所有SPARQ使用所需要的配件都是和主機標配在一起的,包括40GHz高穩相線纜。而VNA卻相反;一個12端口的VNA往往是由2端口或者4端口設備通過額外的測試組件和互連搭建而成,因此整個係統變得更加複雜,高成本以及不易維護。VNA,尤其是8端口和12端口的型號,大大缺乏了SPARQ所具有的簡易性。
SPARQ型號
新的SPARQ型號包括12端口30GHz帶寬的SPARQ-3012E以及8端口30GHz的SPARQ-3008E,發貨周期為6到8周。4端口和2端口的信號也同樣有效,包括4端口內置校準件的40GHz帶寬的SPARQ-4004E以及2端口內置校準件的40GHz帶寬的SPARQ4002E,還有2端口手動校準的40GHz帶寬的SPARQ-4002E。
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