EMC測試指的是對電子產品在電磁場方麵幹擾大小（EMI）和抗幹擾能力（EMS）的綜合評定
，是產品質量最重要的指標之一
，電磁兼容的測量由測試場地和測試儀器組成。EMC測試目的是檢測電器產品所產生的電磁輻射對人體、公共電網以及其他正常工作之電器產品的影響。

 

對於從事單片機應用係統設計的工程師而言，掌握EMC測試技術是很重要的。EMC測試包括電磁幹擾（EMI）和電磁敏感性（EMS）兩liang部bu分fen。由you於yu電dian器qi產chan品pin在zai使shi用yong時shi對dui其qi它ta電dian器qi有you電dian磁ci幹gan擾rao，或huo受shou到dao其qi它ta電dian器qi的de電dian磁ci幹gan擾rao
，它ta不bu僅jin關guan係xi到dao產chan品pin工gong作zuo的de可ke靠kao性xing和he安an全quan性xing，還hai可ke能neng影ying響xiang其qi它ta電dian器qi的de正zheng常chang工gong作zuo
，甚shen至zhi導dao致zhi安an全quan危wei險xian。本ben文wen將jiang主zhu要yao給gei主zhu要yao給gei大da家jia講jiang解jieEMC測試的相關知識。

 

單片機係統EMC測試包括

 

 

測試環境：為了保證測試結果的準確和可靠性，電磁兼容性測量對測試環境有較高的要求
，測量場地有室外開闊場地
、屏蔽室或電波暗室等。

 

測試設備：電磁兼容測量設備分為兩類，一類是電磁幹擾測量設備，設備接上適當的傳感器

，就可以進行電磁幹擾的測量；另一類是在電磁敏感度測量
，設備模擬不同幹擾源，通過適當的耦合/去耦網絡
、傳感器或天線，施加於各類被測設備，用作敏感度或幹擾度測量。

 

測量方法：電磁兼容性測試依據標準的不同
，有許多種測量方法
，但歸納起來可分為4類
；傳導發射測試、輻射發射測試
、傳導敏感度（抗擾度）測試和輻射敏感度（抗擾度）測試。

 

測試準備：EMC測ce試shi實shi驗yan室shi為wei電dian波bo半ban暗an室shi和he屏ping蔽bi室shi。前qian者zhe用yong於yu輻fu射she發fa射she和he輻fu射she敏min感gan測ce試shi，後hou者zhe用yong於yu傳chuan導dao發fa射she和he傳chuan導dao敏min感gan度du測ce試shi。傳chuan導dao和he輻fu射she的de電dian磁ci環huan境jing電dian平ping最zui好hao遠yuan低di於yu標biao準zhun規gui定ding的de極ji限xian值zhi，一yi般ban使shi環huan境jing電dian平ping至zhi少shao低di於yu極ji限xian值zhi6dB。

 

電磁幹擾測試的要點

 

電磁幹擾是幹擾電纜信號並降低信號完好性的電子噪音
，EMI通常由電磁輻射發生源如馬達和機器產生。電磁幹擾是人們早就發現的電磁現象，它幾乎和電磁效應的現象同時被發現，1981年英國科學家發表“論幹擾”的文章，標誌著研究幹擾問題的開始。1989年英國郵電部門研究了通信中的幹擾問題，使幹擾問題的研究開始走向工程化和產業化。

 

電磁幹擾（EMI）和電磁敏感度（EMS）測試，需要用到許多電子儀器

，如頻譜分析儀、電磁場幹擾測量儀、信號源、功能放大器、示波器等。由於EMC測試頻率很寬（20Hz～40GHz）、幅度很大（μV級至kW級）
、模式很多（FM
、AM等）
、姿態很多（平放、斜放等），因此正確地使用電子儀器非常重要。

 

celiangdianciganraodeheshiyiqishipinpufenxiyi
，pinpufenxiyishiyizhongjiangdianyafudusuipinlvbianhuadeguilvxianshichulaideyiqi，taxianshideboxingchengweipinpu。pinpufenxiyikefuleshiboqizaiceliangdianciganraozhongdequedian，nenggoujingquecelianggegepinlvshangdeganraoqiangdu，yongpinpufenxiyikeyizhijiexianshichuxinhaodegegepinpufenliang。diancijianrongguzhangpaichujishuxuyaojiejuechuandaoxingwenti，tongguochuanlianyigegaozukanglaijianshaoEMI電流，並聯一個低阻抗將EMI電流短路到地或引到其它回路導體，電流隔離裝置切斷EMI電流等難題。

 

在(zai)解(jie)決(jue)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)問(wen)題(ti)時(shi)，最(zui)重(zhong)要(yao)的(de)一(yi)個(ge)問(wen)題(ti)是(shi)判(pan)斷(duan)幹(gan)擾(rao)的(de)來(lai)源(yuan)。隻(zhi)有(you)準(zhun)確(que)將(jiang)幹(gan)擾(rao)源(yuan)定(ding)位(wei)後(hou)
，才(cai)能(neng)夠(gou)提(ti)出(chu)解(jie)決(jue)幹(gan)擾(rao)的(de)措(cuo)施(shi)。根(gen)據(ju)信(xin)號(hao)的(de)頻(pin)率(lv)來(lai)確(que)定(ding)幹(gan)擾(rao)源(yuan)泉(quan)是(shi)最(zui)簡(jian)單(dan)的(de)方(fang)法(fa)
，因(yin)為(wei)在(zai)信(xin)號(hao)的(de)所(suo)有(you)特(te)征(zheng)中(zhong)，頻(pin)率(lv)特(te)征(zheng)是(shi)最(zui)穩(wen)定(ding)的(de)，並(bing)且(qie)電(dian)路(lu)設(she)計(ji)人(ren)員(yuan)往(wang)往(wang)對(dui)電(dian)路(lu)中(zhong)各(ge)個(ge)部(bu)位(wei)的(de)信(xin)號(hao)頻(pin)率(lv)都(dou)十(shi)分(fen)清(qing)楚(chu)。因(yin)此(ci)，隻(zhi)要(yao)知(zhi)道(dao)了(le)幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)的(de)頻(pin)率(lv)，就(jiu)能(neng)夠(gou)推(tui)測(ce)出(chu)幹(gan)擾(rao)是(shi)哪(na)個(ge)部(bu)位(wei)產(chan)生(sheng)的(de)。對(dui)於(yu)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)，由(you)於(yu)其(qi)幅(fu)度(du)往(wang)往(wang)遠(yuan)小(xiao)於(yu)正(zheng)常(chang)工(gong)作(zuo)信(xin)號(hao)
，用(yong)頻(pin)譜(pu)分(fen)析(xi)儀(yi)做(zuo)這(zhe)種(zhong)測(ce)量(liang)是(shi)十(shi)分(fen)簡(jian)單(dan)的(de)。由(you)於(yu)頻(pin)譜(pu)分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)中(zhong)頻(pin)帶(dai)寬(kuan)較(jiao)窄(zhai)，因(yin)此(ci)能(neng)夠(gou)將(jiang)與(yu)幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)頻(pin)率(lv)不(bu)同(tong)的(de)信(xin)號(hao)濾(lv)除(chu)掉(diao)
，精(jing)確(que)地(di)測(ce)量(liang)出(chu)幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)頻(pin)率(lv)，從(cong)而(er)判(pan)斷(duan)產(chan)生(sheng)幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)的(de)電(dian)路(lu)。

 

如今
，隨著人們對精確度和電子產品質量要求越來越高
，EMC測ce試shi也ye越yue來lai越yue重zhong要yao

，以yi前qian不bu需xu要yao測ce試shi的de現xian在zai都dou需xu要yao進jin行xing測ce試shi
，這zhe也ye是shi工gong程cheng師shi需xu要yao學xue習xi的de地di方fang，未wei來lai
，將jiang有you更geng多duo的de行xing業ye標biao準zhun出chu現xian

，屆jie時shi，工gong程cheng師shi學xue習xi的de東dong西xi更geng多duo了le。