Type-C端口水汽檢測(LPD)技術介紹
發布時間:2025-03-04 責任編輯:lina
【導讀】在現代電子設備中,USB Type-C 接口因其具有高帶寬、高功率特性且支持反向插入,成為應用最廣泛的標準。然而,隨著設備日益趨向小型化、充電功率和功能多樣化,接口可靠性也麵臨著更嚴峻的挑戰,尤其是在日常生活中 Type-C duankoujingchanghuibaoluzaichaoshihuogaowenhuanjingzhong,shuiqihuoshenghuoyongshuishenrujiekoukenengyinfayixiliewenti,congchongdianbuwendingdaoshebeiduanlu,shenzhidaozhishebeisunhuai。ruheyouxiaojiancehefangzhishuiqiqinruchengweitisheng USB Type-C 接口可靠性的重要課題。本文將探討針對 USB Type-C 接口的水汽檢測技術,分析其工作原理、實現方式及艾為的對應產品。
下圖為一個典型的水汽入侵等效示意電路:
圖1 Type-C 端口水汽入侵等效示意圖
圖2 Type-C 端口水汽入侵實測波形圖
據此波形分析並設計LPD機製
4、AP 側可以重啟 CC 端口 DRP 功能。
這也是艾為的第一代 PD PHY – AW35615CSR 所采用的 LPD 檢測方案,該芯片累計出貨近億顆,並且以其優異的性能進入MTK、展訊、ASR 等多家公司的官方參考設計方案。
在此基礎之上,艾為不斷追求 LPD 檢測精度及靈敏度,並推出第二代 PD PHY 方案,內部集成擁有專利保護的硬件水汽檢測電路,其原理將結合下圖解釋:
圖3 CC PIN Toggle 示意圖
支持 USB PD 3.1 28V EPR 更優秀的眼圖 CC 引腳最高耐壓值:32V 自家通過 CTS 認證的完整 PD 協議棧實現 取消 VCONN 引腳,layout 更方便 支持1.2V、1.8V IIC通信 支持死電池模式,未通電時作為 SNK 內置專利保護的 LPD 硬件算法 支持 VBUS 檢測與放電控製功能,可以避免 VBUS 電腐蝕老化損耗 支持 Wake 低功耗檢測模式
文章來源:艾為之家
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