【導讀】集成電路型號很多，內部電路千變萬化，故檢測集成電路的好壞較為複雜。下麵介紹一些常用的集成電路的好壞檢測方法。

集成電路型號很多，內部電路千變萬化，故檢測集成電路的好壞較為複雜。下麵介紹一些常用的集成電路的好壞檢測方法。

開路測量電阻法

開路測量電阻法是指在集成電路未與其他電路連接時
，通過測量集成電路各個引腳與接地引腳之間的電阻來判別好壞的方法。

集成電路都有一個接地引腳（GND），其(qi)他(ta)各(ge)個(ge)引(yin)腳(jiao)與(yu)接(jie)地(di)引(yin)腳(jiao)之(zhi)間(jian)都(dou)有(you)一(yi)定(ding)的(de)電(dian)阻(zu)
，由(you)於(yu)同(tong)型(xing)號(hao)的(de)集(ji)成(cheng)電(dian)路(lu)內(nei)部(bu)電(dian)路(lu)相(xiang)同(tong)，因(yin)此(ci)同(tong)型(xing)號(hao)的(de)正(zheng)常(chang)集(ji)成(cheng)電(dian)路(lu)的(de)各(ge)個(ge)引(yin)腳(jiao)與(yu)接(jie)地(di)引(yin)腳(jiao)之(zhi)間(jian)的(de)電(dian)阻(zu)均(jun)是(shi)相(xiang)同(tong)的(de)。根(gen)據(ju)這(zhe)一(yi)點(dian)，可(ke)使(shi)用(yong)開(kai)路(lu)測(ce)量(liang)電(dian)阻(zu)的(de)方(fang)法(fa)來(lai)判(pan)別(bie)集(ji)成(cheng)電(dian)路(lu)的(de)好(hao)壞(huai)。

在檢測時，萬用表撥至R×100擋，紅表筆固定接被測集成電路的接地引腳，黑表筆依次接其他各個引腳，如圖16—4所suo示shi，測ce出chu並bing記ji下xia各ge個ge引yin腳jiao與yu接jie地di引yin腳jiao之zhi間jian的de電dian阻zu，然ran後hou用yong同tong樣yang的de方fang法fa測ce出chu同tong型xing號hao的de正zheng常chang集ji成cheng電dian路lu的de各ge個ge引yin腳jiao對dui地di電dian阻zu
，再zai將jiang兩liang個ge集ji成cheng電dian路lu各ge引yin腳jiao對dui地di電dian阻zu一yi一yi對dui照zhao，如ru果guo兩liang者zhe完wan全quan相xiang同tong，則ze被bei測ce集ji成cheng電dian路lu正zheng常chang，如ru果guo有you引yin腳jiao電dian阻zu 差距很大
，則被測集成電路損壞。在測量各個引腳電阻時萬用表選用同一擋位，如果因某個引腳電阻 過(guo)大(da)或(huo)過(guo)小(xiao)難(nan)以(yi)觀(guan)察(cha)而(er)需(xu)要(yao)更(geng)換(huan)擋(dang)位(wei)時(shi)，則(ze)測(ce)量(liang)正(zheng)常(chang)集(ji)成(cheng)電(dian)路(lu)的(de)該(gai)引(yin)腳(jiao)電(dian)阻(zu)時(shi)也(ye)要(yao)換(huan)到(dao)該(gai)擋(dang)位(wei)。這(zhe)是(shi)因(yin)為(wei)集(ji)成(cheng)電(dian)路(lu)內(nei)部(bu)大(da)部(bu)分(fen)是(shi)半(ban)導(dao)體(ti)元(yuan)件(jian)
，不(bu)同(tong)的(de)歐(ou)姆(mu)擋(dang)提(ti)供(gong)的(de)電(dian)流(liu)不(bu)同(tong)
，對(dui)於(yu)同(tong)一(yi)個(ge)引(yin)腳(jiao)，使(shi)用(yong)不(bu)同(tong)歐(ou)姆(mu)擋(dang)測(ce)量(liang)時(shi)內(nei)部(bu)元(yuan)件(jian)導(dao)通(tong)程(cheng)度(du)有(you)所(suo)不(bu)同(tong)
，故(gu)不(bu)同(tong)的(de)歐(ou)姆(mu)擋(dang)測(ce)LM324N 同一個引腳得到的阻值可能有一定的差距。

caiyongkailuceliangdianzufapanbiejichengdianludehaohuaibijiaorongyi，bingqieduidaduoshujichengdianludoushiyong，qiquedianshijianceshixuyaozhaoyigetongxinghaodezhengchangjichengdianluzuoweiduizhao
，jiejuezhegewentidefangfashipingshiduojileiceliangyixiechangyongji 成電路的開路電阻的數據
，以便以後檢測同型號集成電路時作為參考，另外也可查閱一些資料來獲得這方麵的數據。圖16—5所示是一種常用的內部有4個運算放大器的集成電路LM324，表16—1中列出了其開路電阻數據
，測量使用數字萬用表的200k2擋
，

表中有兩組數據，一組為紅表筆接11腳（接地腳）、 黑表筆接其他各個引腳測得的數據，另一組為黑表筆接11腳、紅表筆接其他各個引腳測得的數據，在檢 測LM324的好壞時
，也應使用數字萬用表的200k輸出輸出3 擋，再將實測的各個引腳數據與表中數據進行對照。

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