中心議題：

• 信號完整性的測試手段
• 信號完整性仿真
• 信號完整性測試應用實例

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信(xin)號(hao)完(wan)整(zheng)性(xing)設(she)計(ji)在(zai)產(chan)品(pin)開(kai)發(fa)中(zhong)越(yue)來(lai)越(yue)受(shou)到(dao)重(zhong)視(shi)
，而(er)信(xin)號(hao)完(wan)整(zheng)性(xing)的(de)測(ce)試(shi)手(shou)段(duan)種(zhong)類(lei)繁(fan)多(duo)，有(you)頻(pin)域(yu)，也(ye)有(you)時(shi)域(yu)的(de)，還(hai)有(you)一(yi)些(xie)綜(zong)合(he)性(xing)的(de)手(shou)段(duan)，比(bi)如(ru)誤(wu)碼(ma)測(ce)試(shi)。這(zhe)些(xie)手(shou)段(duan)並(bing)非(fei)任(ren)何(he)情(qing)況(kuang)下(xia)都(dou)適(shi)合(he)使(shi)用(yong)
，都(dou)存(cun)在(zai)這(zhe)樣(yang)那(na)樣(yang)的(de)局(ju)限(xian)性(xing)，合(he)適(shi)選(xuan)用(yong)
，可(ke)以(yi)做(zuo)到(dao)事(shi)半(ban)功(gong)倍(bei)，避(bi)免(mian)走(zou)彎(wan)路(lu)。本(ben)文(wen)對(dui)各(ge)種(zhong)測(ce)試(shi)手(shou)段(duan)進(jin)行(xing)介(jie)紹(shao)，並(bing)結(jie)合(he)實(shi)際(ji)硬(ying)件(jian)開(kai)發(fa)活(huo)動(dong)說(shuo)明(ming)如(ru)何(he)選(xuan)用(yong)，最(zui)後(hou)給(gei)出(chu)了(le)一(yi)個(ge)測(ce)試(shi)實(shi)例(li)。

信(xin)號(hao)完(wan)整(zheng)性(xing)的(de)測(ce)試(shi)手(shou)段(duan)很(hen)多(duo)，涉(she)及(ji)的(de)儀(yi)器(qi)也(ye)很(hen)多(duo)，因(yin)此(ci)熟(shu)悉(xi)各(ge)種(zhong)測(ce)試(shi)手(shou)段(duan)的(de)特(te)點(dian)，以(yi)及(ji)根(gen)據(ju)測(ce)試(shi)對(dui)象(xiang)的(de)特(te)性(xing)和(he)要(yao)求(qiu)，選(xuan)用(yong)適(shi)當(dang)的(de)測(ce)試(shi)手(shou)段(duan)
，對(dui)於(yu)選(xuan)擇(ze)方(fang)案(an)、驗證效果

、解決問題等硬件開發活動
，都能夠大大提高效率，起到事半功倍的作用。

信號完整性的測試手段

信號完整性的測試手段主要可以分為三大類，如表1所(suo)示(shi)。表(biao)中(zhong)列(lie)出(chu)了(le)大(da)部(bu)分(fen)信(xin)號(hao)完(wan)整(zheng)性(xing)測(ce)試(shi)手(shou)段(duan)，這(zhe)些(xie)手(shou)段(duan)既(ji)有(you)優(you)點(dian)，但(dan)是(shi)也(ye)存(cun)在(zai)局(ju)限(xian)性(xing)，實(shi)際(ji)上(shang)不(bu)可(ke)能(neng)全(quan)部(bu)都(dou)使(shi)用(yong)，下(xia)麵(mian)對(dui)這(zhe)些(xie)手(shou)段(duan)進(jin)行(xing)一(yi)些(xie)說(shuo)明(ming)。

表1：信號完整性測試手段分類。

1.波形測試
波形測試是信號完整性測試中最常用的手段，一般是使用示波器進行

，主要測試波形幅度
、邊沿和毛刺等，通過測試波形的參數，可以看出幅度、邊(bian)沿(yan)時(shi)間(jian)等(deng)是(shi)否(fou)滿(man)足(zu)器(qi)件(jian)接(jie)口(kou)電(dian)平(ping)的(de)要(yao)求(qiu)
，有(you)沒(mei)有(you)存(cun)在(zai)信(xin)號(hao)毛(mao)刺(ci)等(deng)。由(you)於(yu)示(shi)波(bo)器(qi)是(shi)極(ji)為(wei)通(tong)用(yong)的(de)儀(yi)器(qi)，幾(ji)乎(hu)所(suo)有(you)的(de)硬(ying)件(jian)工(gong)程(cheng)師(shi)都(dou)會(hui)使(shi)用(yong)，但(dan)並(bing)不(bu)表(biao)示(shi)大(da)家(jia)都(dou)使(shi)用(yong)得(de)好(hao)。波(bo)形(xing)測(ce)試(shi)也(ye)要(yao)遵(zun)循(xun)一(yi)些(xie)要(yao)求(qiu)
，才(cai)能(neng)夠(gou)得(de)到(dao)準(zhun)確(que)的(de)信(xin)號(hao)。

首先是要求主機和探頭一起組成的帶寬要足夠。基本上測試係統的帶寬是測試信號帶寬的3倍以上就可以了。實際使用中
，有一些工程師隨便找一些探頭就去測試

，甚至是A公司的探頭插到B公司的示波器去，這種測試很難得到準確的結果。

其次要注重細節。比如測試點通常選擇放在接收器件的管腳，如果條件限製放不到上麵去的，比如BGA封裝的器件
，可以放到最靠近管腳的PCB走線上或者過孔上麵。距離接收器件管腳過遠
，因為信號反射，可能會導致測試結果和實際信號差異比較大；探頭的地線盡量選擇短地線等。

最後，需要注意一下匹配。這個主要是針對使用同軸電纜去測試的情況，同軸直接接到示波器上去，負載通常是50歐姆，並且是直流耦合
，而對於某些電路，需要直流偏置，直接將測試係統接入時會影響電路工作狀態

，從而測試不到正常的波形。
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2.眼圖測試
眼圖測試是常用的測試手段

，特別是對於有規範要求的接口，比如E1/T1、USB、10/100BASE-T，還有光接口等。這些標準接口信號的眼圖測試，主要是用帶MASK(模板)的示波器，包括通用示波器，采樣示波器或者信號分析儀
，這些示波器內置的時鍾提取功能
，可以顯示眼圖，對於沒有MASK的(de)示(shi)波(bo)器(qi)，可(ke)以(yi)使(shi)用(yong)外(wai)接(jie)時(shi)鍾(zhong)進(jin)行(xing)觸(chu)發(fa)。使(shi)用(yong)眼(yan)圖(tu)測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)
，需(xu)要(yao)注(zhu)意(yi)測(ce)試(shi)波(bo)形(xing)的(de)數(shu)量(liang)，特(te)別(bie)是(shi)對(dui)於(yu)判(pan)斷(duan)接(jie)口(kou)眼(yan)圖(tu)是(shi)否(fou)符(fu)合(he)規(gui)範(fan)時(shi)，數(shu)量(liang)過(guo)少(shao)
，波(bo)形(xing)的(de)抖(dou)動(dong)比(bi)較(jiao)小(xiao)，也(ye)許(xu)有(you)一(yi)下(xia)違(wei)規(gui)的(de)情(qing)況(kuang)，比(bi)如(ru)波(bo)形(xing)進(jin)入(ru)MASK的某部部分，就可能采集不到
，出現誤判為通過，數量太多，會導致整個測試時間過長
，效率不高，通常情況下
，測試波形數量不少於2000
，在3000左右為適宜。

目前有一些儀器，利用分析軟件
，可以對眼圖中的違規詳細情況進行查看，比如在MASK中(zhong)落(luo)入(ru)了(le)一(yi)些(xie)采(cai)樣(yang)點(dian)，在(zai)以(yi)前(qian)是(shi)不(bu)知(zhi)道(dao)哪(na)些(xie)情(qing)況(kuang)下(xia)落(luo)入(ru)的(de)，因(yin)為(wei)所(suo)有(you)的(de)采(cai)樣(yang)點(dian)是(shi)累(lei)加(jia)進(jin)去(qu)的(de)，總(zong)的(de)效(xiao)果(guo)看(kan)起(qi)來(lai)就(jiu)象(xiang)是(shi)長(chang)餘(yu)暉(hui)顯(xian)示(shi)。而(er)新(xin)的(de)儀(yi)器(qi)，利(li)用(yong)了(le)其(qi)長(chang)存(cun)儲(chu)的(de)優(you)勢(shi)，將(jiang)波(bo)形(xing)采(cai)集(ji)進(jin)來(lai)後(hou)進(jin)行(xing)處(chu)理(li)顯(xian)示(shi)，因(yin)此(ci)波(bo)形(xing)的(de)每(mei)一(yi)個(ge)細(xi)節(jie)都(dou)可(ke)以(yi)保(bao)留(liu)，因(yin)此(ci)它(ta)可(ke)以(yi)查(zha)看(kan)波(bo)形(xing)的(de)違(wei)規(gui)情(qing)況(kuang)，比(bi)如(ru)波(bo)形(xing)是(shi)000010還是101010，這個功能可以幫助硬件工程師查找問題的根源所在。

3.抖動測試
抖動測試現在越來越受到重視，因為專用的抖動測試儀器

，比如TIA(時間間隔分析儀)、SIA3000
，價格非常昂貴
，使用得比較少。使用得最多是示波器加上軟件處理，如TEK的TDSJIT3軟件。通過軟件處理
，分離出各個分量，比如RJ和DJ
，以及DJ中的各個分量。對於這種測試，選擇的示波器
，長存儲和高速采樣是必要條件
，比如2M以上的存儲器，20GSa/s的采樣速率。不過目前抖動測試
，各個公司的解決方案得到結果還有相當差異
，還沒有哪個是權威或者行業標準。

4.TDR測試
TDR測試目前主要使用於PCB(印製電路板)信號線
、以(yi)及(ji)器(qi)件(jian)阻(zu)抗(kang)的(de)測(ce)試(shi)，比(bi)如(ru)單(dan)端(duan)信(xin)號(hao)線(xian)，差(cha)分(fen)信(xin)號(hao)線(xian)，連(lian)接(jie)器(qi)等(deng)。這(zhe)種(zhong)測(ce)試(shi)有(you)一(yi)個(ge)要(yao)求(qiu)，就(jiu)是(shi)和(he)實(shi)際(ji)應(ying)用(yong)的(de)條(tiao)件(jian)相(xiang)結(jie)合(he)，比(bi)如(ru)實(shi)際(ji)該(gai)信(xin)號(hao)線(xian)的(de)信(xin)號(hao)上(shang)升(sheng)沿(yan)在(zai)300ps左右，那麼TDR的輸出脈衝信號的上升沿也要相應設置在300ps附近
，而不使用30ps左右的上升沿，否則測試結果可能和實際應用有比較大的差別。影響TDR測試精度有很多的原因，主要有反射
、校準、讀數選擇等，反射會導致較短的PCB信號線測試值出現嚴重偏差，特別是在使用TIP(探針)去測試的情況下更為明顯，因為TIP和信號線接觸點會導致很大的阻抗不連續，導致反射發生，並導致附近三、四英寸左右範圍的PCB信號線的阻抗曲線起伏。

5.時序測試
現(xian)在(zai)器(qi)件(jian)的(de)工(gong)作(zuo)速(su)率(lv)越(yue)來(lai)越(yue)快(kuai)，時(shi)序(xu)容(rong)限(xian)越(yue)來(lai)越(yue)小(xiao)，時(shi)序(xu)問(wen)題(ti)導(dao)致(zhi)產(chan)品(pin)不(bu)穩(wen)定(ding)是(shi)非(fei)常(chang)常(chang)見(jian)的(de)，因(yin)此(ci)時(shi)序(xu)測(ce)試(shi)是(shi)非(fei)常(chang)必(bi)要(yao)的(de)。測(ce)試(shi)時(shi)序(xu)通(tong)常(chang)需(xu)要(yao)多(duo)通(tong)道(dao)的(de)示(shi)波(bo)器(qi)和(he)多(duo)個(ge)探(tan)頭(tou)，示(shi)波(bo)器(qi)的(de)邏(luo)輯(ji)觸(chu)發(fa)或(huo)者(zhe)碼(ma)型(xing)和(he)狀(zhuang)態(tai)觸(chu)發(fa)功(gong)能(neng)
，對(dui)於(yu)快(kuai)速(su)捕(bu)獲(huo)到(dao)需(xu)要(yao)的(de)波(bo)形(xing)
，很(hen)有(you)幫(bang)助(zhu)
，不(bu)過(guo)多(duo)個(ge)探(tan)頭(tou)在(zai)實(shi)際(ji)操(cao)作(zuo)中(zhong)，並(bing)不(bu)容(rong)易(yi)，又(you)要(yao)拿(na)探(tan)頭(tou)
，又(you)要(yao)操(cao)作(zuo)示(shi)波(bo)器(qi)，那(na)個(ge)時(shi)候(hou)感(gan)覺(jiao)有(you)孫(sun)悟(wu)空(kong)的(de)三(san)頭(tou)六(liu)臂(bi)就(jiu)方(fang)便(bian)多(duo)了(le)。邏(luo)輯(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)用(yong)做(zuo)時(shi)序(xu)測(ce)試(shi)並(bing)不(bu)多(duo)
，因(yin)為(wei)它(ta)主(zhu)要(yao)作(zuo)用(yong)是(shi)分(fen)析(xi)碼(ma)型(xing)，也(ye)就(jiu)是(shi)分(fen)析(xi)信(xin)號(hao)線(xian)上(shang)跑(pao)的(de)是(shi)什(shen)麼(me)碼(ma)
，和(he)代(dai)碼(ma)聯(lian)係(xi)在(zai)一(yi)起(qi)，可(ke)以(yi)分(fen)析(xi)是(shi)哪(na)些(xie)指(zhi)令(ling)或(huo)者(zhe)數(shu)據(ju)。在(zai)對(dui)於(yu)要(yao)求(qiu)不(bu)高(gao)的(de)情(qing)況(kuang)下(xia)，可(ke)以(yi)用(yong)它(ta)來(lai)測(ce)試(shi)，它(ta)相(xiang)對(dui)示(shi)波(bo)器(qi)來(lai)說(shuo)，優(you)勢(shi)就(jiu)是(shi)通(tong)道(dao)數(shu)多(duo)，但(dan)是(shi)它(ta)的(de)劣(lie)勢(shi)是(shi)探(tan)頭(tou)連(lian)接(jie)困(kun)難(nan)，除(chu)非(fei)設(she)計(ji)的(de)時(shi)候(hou)就(jiu)已(yi)經(jing)考(kao)慮(lv)了(le)連(lian)接(jie)問(wen)題(ti)，否(fou)則(ze)飛(fei)線(xian)就(jiu)是(shi)唯(wei)一(yi)的(de)選(xuan)擇(ze)，如(ru)果(guo)信(xin)號(hao)線(xian)在(zai)PCB的內層，幾乎很難做到。

6.頻譜測試
對於產品的開發前期，這種測試應用相對比較少，但是對於後期的係統測試，比如EMC測試，很多產品都需要測試。通過該測試發現某些頻點超標，然後可以使用近場掃描儀(其中關鍵的儀器是頻譜儀)

，例如EMCSCANER
，來lai分fen析xi板ban卡ka上shang麵mian具ju體ti哪na一yi部bu分fen的de頻pin譜pu比bi較jiao高gao
，從cong而er找zhao出chu超chao標biao的de根gen源yuan所suo在zai。不bu過guo這zhe些xie設she備bei相xiang對dui都dou比bi較jiao昂ang貴gui，中zhong小xiao公gong司si擁yong有you的de不bu多duo，因yin此ci通tong常chang情qing況kuang下xia都dou是shi在zai設she計ji時shi仔zai細xi做zuo好hao匹pi配pei和he屏ping蔽bi，避bi免mian後hou麵mian測ce試shi時shi發fa現xian信xin號hao頻pin譜pu超chao標biao，因yin為wei後hou期qi發fa現xian了le問wen題ti，很hen多duo情qing況kuang下xia是shi很hen難nan定ding位wei的de。

7.頻域阻抗測試
現在很多標準接口，比如E1/T1等deng
，為wei了le避bi免mian有you太tai多duo的de能neng量liang反fan射she，都dou要yao求qiu比bi較jiao好hao地di匹pi配pei，另ling外wai在zai射she頻pin或huo者zhe微wei波bo，相xiang互hu對dui接jie，對dui阻zu抗kang通tong常chang都dou有you要yao求qiu。這zhe些xie情qing況kuang下xia，都dou需xu要yao進jin行xing頻pin域yu的de阻zu抗kang測ce試shi。阻zu抗kang測ce試shi通tong常chang使shi用yong網wang絡luo分fen析xi儀yi，單dan端duan端duan口kou相xiang對dui簡jian單dan，對dui於yu差cha分fen輸shu入ru的de端duan口kou，可ke以yi使shi用yongBalun進行差分和單端轉換。

傳輸損耗測試
，對於長的PCB走zou線xian，或huo者zhe電dian纜lan等deng，在zai傳chuan輸shu距ju離li比bi較jiao遠yuan



，或huo者zhe傳chuan輸shu信xin號hao速su率lv非fei常chang高gao的de情qing況kuang下xia，還hai有you頻pin域yu的de串chuan擾rao等deng，都dou可ke以yi使shi用yong網wang絡luo分fen析xi儀yi來lai測ce試shi。同tong樣yang的de，對dui於yuPCB差分信號或者雙絞線
，也可是使用Balun進行差分到單端轉換，或者使用4端口網絡分析來測試。多端口網絡分析儀的校準
，使用電子校準件可以大大提高校準的效率。

8.誤碼測試
誤wu碼ma測ce試shi實shi際ji上shang是shi係xi統tong測ce試shi，利li用yong誤wu碼ma儀yi

，甚shen至zhi是shi一yi些xie軟ruan件jian都dou可ke做zuo，比bi如ru可ke以yi通tong過guo兩liang台tai電dian腦nao，使shi用yong軟ruan件jian，測ce試shi連lian接jie兩liang台tai電dian腦nao間jian的de網wang絡luo誤wu碼ma情qing況kuang。誤wu碼ma測ce試shi可ke以yi對dui數shu據ju的de每mei一yi位wei都dou進jin行xing測ce試shi，這zhe是shi它ta的de優you點dian，相xiang比bi之zhi下xia示shi波bo器qi隻zhi是shi部bu分fen時shi間jian進jin行xing采cai樣yang，很hen多duo時shi間jian都dou在zai等deng待dai
，因yin此ci漏lou過guo了le很hen多duo細xi節jie。低di誤wu碼ma率lv的de設she備bei的de誤wu碼ma測ce試shi很hen耗hao費fei時shi間jian，有you的de測ce試shi時shi間jian是shi一yi整zheng天tian，甚shen至zhi是shi數shu天tian。

實shi際ji中zhong如ru何he選xuan用yong這zhe上shang述shu測ce試shi手shou段duan，需xu要yao根gen據ju被bei測ce試shi對dui象xiang進jin行xing具ju體ti分fen析xi
，不bu同tong的de情qing況kuang需xu要yao不bu同tong的de測ce試shi手shou段duan。比bi如ru有you標biao準zhun接jie口kou的de
，就jiu可ke以yi使shi用yong眼yan圖tu測ce試shi
、阻抗測試和誤碼測試等
，對於普通硬件電路，可以使用波形測試
、時序測試，設計中有高速信號線，還可以使用TDR測試。對於時鍾、高速串行信號，還可以抖動測試等。

lingwaishangmianzhongduodeyiqi
，henduodoukeyishixianduozhongceshi，birushiboqi

，keyishixianboxingceshi，shixuceshi
，yantuceshihedoudongceshideng，wangluofenxiyikeyishixianpinyuzukangceshi
、傳輸損耗測試等
，因此靈活應用儀器也是提高測試效率
，發現設計中存在問題的關鍵。
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信號完整性仿真

信xin號hao完wan整zheng性xing測ce試shi是shi信xin號hao完wan整zheng性xing設she計ji的de一yi個ge手shou段duan
，在zai實shi際ji應ying用yong中zhong還hai有you信xin號hao完wan整zheng性xing仿fang真zhen

，這zhe兩liang個ge手shou段duan結jie合he在zai一yi起qi，為wei硬ying件jian開kai發fa活huo動dong提ti供gong了le強qiang大da的de支zhi持chi。圖tu1是目前比較常見的硬件開發過程。

圖1：常見的硬件設計流程。

在zai需xu求qiu分fen析xi和he方fang案an選xuan擇ze階jie段duan，就jiu可ke以yi應ying用yong一yi些xie信xin號hao完wan整zheng性xing測ce試shi手shou段duan和he仿fang真zhen手shou段duan來lai分fen析xi可ke行xing性xing，或huo者zhe判pan斷duan哪na種zhong方fang案an優you勝sheng
，比bi如ru測ce試shi一yi些xie關guan鍵jian芯xin片pian的de評ping估gu板ban，看kan看kan信xin號hao的de電dian平ping、sulvdengshifoumanzuyaoqiu，huozheliyongshixiandedaodeqijianmoxing
，jinxingfangzhen，kanjiekoudexinhaochuanshujulishifoumanzuyaoqiudeng。zaipingshiliyongceshishouduan，yekeyidedaoyixieqijiandemoxing，birudianlandechuanshumoxing
，zhezhongmoxingkeyiliyongzaifangzhenzhong
，dangzhexiemoxingjileibijiaoduo，yixiebufenceshi
，baokuoshejiwanbihoudeyanzhengceshi，keyiyongfangzhenlaitidai，zheduiyuxiaolvtigaohenyouhaochu
，yinweiyigeshejizhongdesuoyoudexinhaodouwanquanjinxingceshi，shibijiaokunnande，yeshihenhaofeishijiande。

在設計階段，通常是使用仿真手段，對具體問題進行分析


，比如負載的個數，PCB信號線的拓撲結構，並根據仿真結果對設計進行調整，以便將大多數的信號完整性問題解決在設計階段。

xitongtiaoshiyijiyanzhengceshijieduan
，zhuyaoshiliyongxinhaowanzhengxingceshishouduan，duishejijinxingceshi，kanshifoushejideyaoqiu。ruguofaxianleyanzhongwenti，jiuyaoqujiejue，xinhaowanzhengxingdeceshihefangzhenshouduandoujiangyonglaixunzhaowentidegenyuan，yijixunzhaoshihedejiejuefanganshangmian。

信號完整性測試和信號完整性仿真緊密結合，是信號完整性設計的基本要求。

應用實例

某種進口電纜A在zai公gong司si的de各ge個ge產chan品pin中zhong廣guang泛fan應ying用yong，由you於yu是shi獨du家jia供gong應ying商shang
，多duo年nian價jia格ge一yi直zhi沒mei有you下xia降jiang過guo
，在zai通tong信xin產chan品pin的de價jia格ge逐zhu年nian大da幅fu度du地di下xia降jiang的de情qing況kuang下xia，是shi不bu大da正zheng常chang的de
，這zhe種zhong情qing況kuang下xia需xu要yao尋xun找zhao替ti代dai的de供gong應ying商shang
，由you於yu涉she及ji的de產chan品pin眾zhong多duo，並bing且qie產chan品pin在zai網wang絡luo中zhong的de地di位wei很hen高gao，替ti代dai就jiu顯xian得de非fei常chang謹jin慎shen
，因yin此ci需xu要yao通tong過guo多duo方fang麵mian測ce試shi驗yan證zheng，才cai能neng夠gou決jue定ding能neng否fou替ti代dai。

根據規格需求，找到擬用來替代的國產電纜B，根據這種情況
，設計多種測試進行驗證兩種電纜的效果：1.頻域測試：測試兩種電纜的傳輸損耗、反射
、串擾等；2.時域測試：測試兩種電纜的眼圖測試、波形測試等；3.仿真：利用仿真軟件

，仿真眼圖傳輸情況；4.其他測試：呼叫測試(係統測試的一種，模擬實際應用的性能)。圖2、3和4是部分的測試結果。

圖2：兩種電纜的差分傳輸損耗(上)和差分近端串擾(下)。

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圖3：仿真傳輸眼圖(上：電纜A

，下：電纜B)。

從圖2可以看到，兩種電纜的差分傳輸損耗差不多，而電纜A得近端串擾則相對比較大。圖3使用了仿真軟件，仿真20米長的電纜，傳輸40Mbps信號的眼圖情況
，仿真使用的電纜模型是利用上麵頻域測試得到的模型，通過仿真可以看到電纜B的眼圖比電纜A的眼圖要好
，不論眼高還是眼圖抖動。

圖4：實際應用測試(上：電纜A，下：電纜B)。

圖4是實際應用的眼圖情況，很明顯電纜B的眼圖要比電纜A的眼圖要好
，和前麵的仿真結果比較吻合，不過電纜A的實際反射比較大一點
，這和仿真使用驅動器件的模型有關。

綜合其他測試的結果，最後結論認為擬用來替代的國產電纜B，性能優於進口電纜電纜A
，因此完全可以替代。這個替代，將給公司帶來每年數百萬元的成本下降。