中心議題：

• 改進電路設計規程提高可測試性
• 分析良好的可測試性的機械接觸條件

解決方案：

• 通過遵守規程可減少生產測試的費用
• 采用新的測試方法和采用創新性適配器解決方案

隨著微型化程度不斷提高，元件和布線技術也取得巨大發展，例如BGA外殼封裝的高集成度的微型IC，以及導體之間的絕緣間距縮小到0.5mm，這(zhe)些(xie)僅(jin)是(shi)其(qi)中(zhong)的(de)兩(liang)個(ge)例(li)子(zi)。電(dian)子(zi)元(yuan)件(jian)的(de)布(bu)線(xian)設(she)計(ji)方(fang)式(shi)，對(dui)以(yi)後(hou)製(zhi)作(zuo)流(liu)程(cheng)中(zhong)的(de)測(ce)試(shi)能(neng)否(fou)很(hen)好(hao)進(jin)行(xing)，影(ying)響(xiang)越(yue)來(lai)越(yue)大(da)。下(xia)麵(mian)介(jie)紹(shao)幾(ji)種(zhong)重(zhong)要(yao)規(gui)則(ze)及(ji)實(shi)用(yong)提(ti)示(shi)。

通過遵守一定的規程（DFT-Design for Testability，可測試的設計），可ke以yi大da大da減jian少shao生sheng產chan測ce試shi的de準zhun備bei和he實shi施shi費fei用yong。這zhe些xie規gui程cheng已yi經jing過guo多duo年nian發fa展zhan，當dang然ran
，若ruo采cai用yong新xin的de生sheng產chan技ji術shu和he元yuan件jian技ji術shu

，它ta們men也ye要yao相xiang應ying的de擴kuo展zhan和he適shi應ying。隨sui著zhe電dian子zi產chan品pin結jie構gou尺chi寸cun越yue來lai越yue小xiao
，目mu前qian出chu現xian了le兩liang個ge特te別bie引yin人ren注zhu目mu的de問wen題ti：一是可接觸的電路節點越來越少；二是像在線測試（In-Circuit-Test）這zhe些xie方fang法fa的de應ying用yong受shou到dao限xian製zhi。為wei了le解jie決jue這zhe些xie問wen題ti
，可ke以yi在zai電dian路lu布bu局ju上shang采cai取qu相xiang應ying的de措cuo施shi
，采cai用yong新xin的de測ce試shi方fang法fa和he采cai用yong創chuang新xin性xing適shi配pei器qi解jie決jue方fang案an。第di二er個ge問wen題ti的de解jie決jue還hai涉she及ji到dao使shi原yuan來lai作zuo為wei獨du立li工gong序xu使shi用yong的de測ce試shi係xi統tong承cheng擔dan附fu加jia任ren務wu。這zhe些xie任ren務wu包bao括kuo通tong過guo測ce試shi係xi統tong對dui存cun儲chu器qi組zu件jian進jin行xing編bian程cheng或huo者zhe實shi行xing集ji成cheng化hua的de元yuan器qi件jian自zi測ce試shi（Built-in Self Test
，BIST
，內建的自測試）。將(jiang)這(zhe)些(xie)步(bu)驟(zhou)轉(zhuan)移(yi)到(dao)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)中(zhong)去(qu)，總(zong)起(qi)來(lai)看(kan)
，還(hai)是(shi)創(chuang)造(zao)了(le)更(geng)多(duo)的(de)附(fu)加(jia)價(jia)值(zhi)。為(wei)了(le)順(shun)利(li)地(di)實(shi)施(shi)這(zhe)些(xie)措(cuo)施(shi)
，在(zai)產(chan)品(pin)科(ke)研(yan)開(kai)發(fa)階(jie)段(duan)，就(jiu)必(bi)須(xu)有(you)相(xiang)應(ying)的(de)考(kao)慮(lv)。

1、什麼是可測試性

可測試性的意義可理解為：測試工程師可以用盡可能簡單的方法來檢測某種元件的特性，看它能否滿足預期的功能。簡單地講就是：

• 檢測產品是否符合技術規範的方法簡單化到什麼程度？
• 編製測試程序能快到什麼程度
  ？
• 發現產品故障全麵化到什麼程度？
• 接入測試點的方法簡單化到什麼程度？

為(wei)了(le)達(da)到(dao)良(liang)好(hao)的(de)可(ke)測(ce)試(shi)必(bi)須(xu)考(kao)慮(lv)機(ji)械(xie)方(fang)麵(mian)和(he)電(dian)氣(qi)方(fang)麵(mian)的(de)設(she)計(ji)規(gui)程(cheng)。當(dang)然(ran)，要(yao)達(da)到(dao)最(zui)佳(jia)的(de)可(ke)測(ce)試(shi)性(xing)，需(xu)要(yao)付(fu)出(chu)一(yi)定(ding)代(dai)價(jia)，但(dan)對(dui)整(zheng)個(ge)工(gong)藝(yi)流(liu)程(cheng)來(lai)說(shuo)
，它(ta)具(ju)有(you)一(yi)係(xi)列(lie)的(de)好(hao)處(chu)
，因(yin)此(ci)是(shi)產(chan)品(pin)能(neng)否(fou)成(cheng)功(gong)生(sheng)產(chan)的(de)重(zhong)要(yao)前(qian)提(ti)。

2、為什麼要發展測試友好技術

guoqu
，ruomouyichanpinzaishangyiceshidianbunengceshi，namezhegewentijiubeijiandandituiyidaozhiyigeceshidianshangqu。ruguochanpinquexianzaishengchanceshizhongbunengfaxian，zeciquexiandeshibieyuzhenduanyehuijiandandibeituiyidaogongnenghexitongceshizhongqu。

相(xiang)反(fan)地(di)，今(jin)天(tian)人(ren)們(men)試(shi)圖(tu)盡(jin)可(ke)能(neng)提(ti)前(qian)發(fa)現(xian)缺(que)陷(xian)


，它(ta)的(de)好(hao)處(chu)不(bu)僅(jin)僅(jin)是(shi)成(cheng)本(ben)低(di)


，更(geng)重(zhong)要(yao)的(de)是(shi)今(jin)天(tian)的(de)產(chan)品(pin)非(fei)常(chang)複(fu)雜(za)，某(mou)些(xie)製(zhi)造(zao)缺(que)陷(xian)在(zai)功(gong)能(neng)測(ce)試(shi)中(zhong)可(ke)能(neng)根(gen)本(ben)檢(jian)查(zha)不(bu)出(chu)來(lai)。例(li)如(ru)某(mou)些(xie)要(yao)預(yu)先(xian)裝(zhuang)軟(ruan)件(jian)或(huo)編(bian)程(cheng)的(de)元(yuan)件(jian)

，就(jiu)存(cun)在(zai)這(zhe)樣(yang)的(de)問(wen)題(ti)。（如快閃存儲器或ISPs：In-System Programmable Devices係統內可編程器件）。這些元件的編程必須在研製開發階段就計劃好，而測試係統也必須掌握這種編程。

測ce試shi友you好hao的de電dian路lu設she計ji要yao費fei一yi些xie錢qian，然ran而er，測ce試shi困kun難nan的de電dian路lu設she計ji費fei的de錢qian會hui更geng多duo。測ce試shi本ben身shen是shi有you成cheng本ben的de，測ce試shi成cheng本ben隨sui著zhe測ce試shi級ji數shu的de增zeng加jia而er加jia大da；從cong在zai線xian測ce試shi到dao功gong能neng測ce試shi以yi及ji係xi統tong測ce試shi，測ce試shi費fei用yong越yue來lai越yue大da。如ru果guo跳tiao過guo其qi中zhong一yi項xiang測ce試shi
，所suo耗hao費fei用yong甚shen至zhi會hui更geng大da。一yi般ban的de規gui則ze是shi每mei增zeng加jia一yi級ji測ce試shi費fei用yong的de增zeng加jia係xi數shu是shi10倍。通過測試友好的電路設計，可以及早發現故障，從而使測試友好的電路設計所費的錢迅速地得到補償。

3、文件資料怎樣影響可測試性

隻zhi有you充chong分fen利li用yong元yuan件jian開kai發fa中zhong完wan整zheng的de數shu據ju資zi料liao，才cai有you可ke能neng編bian製zhi出chu能neng全quan麵mian發fa現xian故gu障zhang的de測ce試shi程cheng序xu。在zai許xu多duo情qing況kuang下xia，開kai發fa部bu門men和he測ce試shi部bu門men之zhi間jian的de密mi切qie合he作zuo是shi必bi要yao的de。文wen件jian資zi料liao對dui測ce試shi工gong程cheng師shi了le解jie元yuan件jian功gong能neng，製zhi定ding測ce試shi戰zhan略lve

，有you無wu可ke爭zheng議yi的de影ying響xiang。

為(wei)了(le)繞(rao)開(kai)缺(que)乏(fa)文(wen)件(jian)和(he)不(bu)甚(shen)了(le)解(jie)元(yuan)件(jian)功(gong)能(neng)所(suo)產(chan)生(sheng)的(de)問(wen)題(ti)
，測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)製(zhi)造(zao)商(shang)可(ke)以(yi)依(yi)靠(kao)軟(ruan)件(jian)工(gong)具(ju)，這(zhe)些(xie)工(gong)具(ju)按(an)照(zhao)隨(sui)機(ji)原(yuan)則(ze)自(zi)動(dong)產(chan)生(sheng)測(ce)試(shi)模(mo)式(shi)，或(huo)者(zhe)依(yi)靠(kao)非(fei)矢(shi)量(liang)相(xiang)比(bi)，非(fei)矢(shi)量(liang)方(fang)法(fa)隻(zhi)能(neng)算(suan)作(zuo)一(yi)種(zhong)權(quan)宜(yi)的(de)解(jie)決(jue)辦(ban)法(fa)。
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測試前的完整的文件資料包括零件表
，電路設計圖數據（主要是CAD數據）以及有關務元件功能的詳細資料（如數據表）。隻有掌握了所有信息，才可能編製測試矢量，定義元件失效樣式或進行一定的預調整。

某(mou)些(xie)機(ji)械(xie)方(fang)麵(mian)的(de)數(shu)據(ju)也(ye)是(shi)重(zhong)要(yao)的(de)，例(li)如(ru)那(na)些(xie)為(wei)了(le)檢(jian)查(zha)組(zu)件(jian)的(de)焊(han)接(jie)是(shi)否(fou)良(liang)好(hao)及(ji)定(ding)位(wei)是(shi)否(fou)所(suo)需(xu)要(yao)的(de)數(shu)據(ju)。最(zui)後(hou)，對(dui)於(yu)可(ke)編(bian)程(cheng)的(de)元(yuan)件(jian)，如(ru)快(kuai)閃(shan)存(cun)儲(chu)器(qi)，PLD、FPGA等deng
，如ru果guo不bu是shi在zai最zui後hou安an裝zhuang時shi才cai編bian程cheng，是shi在zai測ce試shi係xi統tong上shang就jiu應ying編bian好hao程cheng序xu的de話hua，也ye必bi須xu知zhi道dao各ge自zi的de編bian程cheng數shu據ju。快kuai閃shan元yuan件jian的de編bian程cheng數shu據ju應ying完wan整zheng無wu缺que。如ru快kuai閃shan芯xin片pian含han16Mbit的數據
，就應該可以用到16Mbit，這樣可以防止誤解和避免地址衝突。例如，如果用一個4Mbit存儲器向一個元件僅僅提供300Kbit數據，就可能出現這種情況。當然數據應準備成流行的標準格式，如Intel公司的Hex或Motorola公司的S記錄結構等。大多數測試係統
，隻要能夠對快閃或ISPyuanjianjinxingbiancheng
，shikeyijieduzhexiegeshide。qianmiansuotidaodexuduoxinxi，qizhongxuduoyeshiyuanjianzhizaosuobixude。dangran
，zaikezhizaoxinghekeceshixingzhijianyingmingquequbie，yinweizheshiwanquanbutongdegainian

，congergouchengbutongdeqianti。

4、良好的可測試性的機械接觸條件

如(ru)果(guo)不(bu)考(kao)慮(lv)機(ji)械(xie)方(fang)麵(mian)的(de)基(ji)本(ben)規(gui)則(ze)


，即(ji)使(shi)在(zai)電(dian)氣(qi)方(fang)麵(mian)具(ju)有(you)非(fei)常(chang)良(liang)好(hao)的(de)可(ke)測(ce)試(shi)性(xing)的(de)電(dian)路(lu)，也(ye)可(ke)能(neng)難(nan)以(yi)測(ce)試(shi)。許(xu)多(duo)因(yin)素(su)會(hui)限(xian)製(zhi)電(dian)氣(qi)的(de)可(ke)測(ce)試(shi)性(xing)。如(ru)果(guo)測(ce)試(shi)點(dian)不(bu)夠(gou)或(huo)太(tai)小(xiao)，探(tan)針(zhen)床(chuang)適(shi)配(pei)器(qi)就(jiu)難(nan)以(yi)接(jie)觸(chu)到(dao)電(dian)路(lu)的(de)每(mei)個(ge)節(jie)點(dian)。如(ru)果(guo)測(ce)試(shi)點(dian)位(wei)置(zhi)誤(wu)差(cha)和(he)尺(chi)寸(cun)誤(wu)差(cha)太(tai)大(da)，就(jiu)會(hui)產(chan)生(sheng)測(ce)試(shi)重(zhong)複(fu)性(xing)不(bu)好(hao)的(de)問(wen)題(ti)。在(zai)使(shi)用(yong)探(tan)針(zhen)床(chuang)配(pei)器(qi)時(shi)
，應(ying)留(liu)意(yi)一(yi)係(xi)列(lie)有(you)關(guan)套(tao)牢(lao)孔(kong)與(yu)測(ce)試(shi)點(dian)的(de)大(da)小(xiao)和(he)定(ding)位(wei)的(de)建(jian)議(yi)

5
、最佳可測試性的電氣前提條件

電dian氣qi前qian提ti條tiao件jian對dui良liang好hao的de可ke測ce試shi性xing，和he機ji械xie接jie觸chu條tiao件jian一yi樣yang重zhong要yao，兩liang者zhe缺que一yi不bu可ke。一yi個ge門men電dian路lu不bu能neng進jin行xing測ce試shi，原yuan因yin可ke能neng是shi無wu法fa通tong過guo測ce試shi點dian接jie觸chu到dao啟qi動dong輸shu入ru端duan，也ye可ke能neng是shi啟qi動dong輸shu入ru端duan處chu在zai封feng裝zhuang殼ke內nei，外wai部bu無wu法fa接jie觸chu，在zai原yuan則ze上shang這zhe兩liang情qing況kuang同tong樣yang都dou是shi不bu好hao的de
，都dou使shi測ce試shi無wu法fa進jin行xing。在zai設she計ji電dian路lu時shi應ying該gai注zhu意yi，凡fan是shi要yao用yong在zai線xian測ce試shi法fa檢jian測ce的de元yuan件jian，都dou應ying該gai具ju備bei某mou種zhong機ji理li，使shi各ge個ge元yuan件jian能neng夠gou在zai電dian氣qi上shang絕jue緣yuan起qi來lai。這zhe種zhong機ji理li可ke以yi借jie助zhu於yu禁jin止zhi輸shu入ru端duan來lai實shi現xian
，它ta可ke以yi將jiang元yuan件jian的de輸shu出chu端duan控kong製zhi在zai靜jing態tai的de高gao歐ou姆mu狀zhuang態tai。

雖然幾乎所有的測試係統都能夠逆驅動（Backdriving）方式將某一節點的狀態帶到任意狀態，但是所涉及的節點最好還是要備有禁止輸入端，首先將此節點帶到高歐姆狀態，然後再“平緩地”加上相應的電平。

同樣，節拍發生器總是通過啟動引線
，門電路或插接電橋從振蕩器後麵直接斷開。啟動輸入端決不可直接與電路相連，而是通過100oumudedianzuyudianlulianjie。meigeyuanjianyingyouzijideqidong，fuweihuokongzhiyinxianjiao。bixubimianxuduoyuanjiandeqidongshuruduangongyongyigedianzuyudianluxianglian。zhetiaoguizeduiyuASICyuanjianyeshiyong，zhexieyuanjianyeyingyouyigeyinxianjiao

，tongguota，kejiangshuchuduandaidaogaooumuzhuangtai。ruguoyuanjianzaijietonggongzuodianyashikeshixingfuwei，zheduiyuyouceshiqilaiyinfafuweiyeshifeichangyoubangzhude。zaizhezhongqingkuangxia，yuanjianzaiceshiqianjiukeyijiandandizhiyuguidingdezhuangtai。

buyongdeyuanjianyinxianjiaotongyangyeyinggaishikejiechude，yinweizaizhexiedifangweifaxiandeduanluyekenengzaochengyuanjianguzhang。ciwai，buyongdemendianluwangwangzaiyihouhuibeiliyongyushejigaijin，tamenkenenghuigaijiedaodianluzhonglai。suoyitongyangzhongyaodeshi
，tamencongyikaishijiuyingjingguoceshi
，yibaozhengqigongjiankekao。