示波器的垂直噪聲主要來自兩個方麵：

 

1) 模擬前端電路的噪聲：包括衰減電路的噪聲
、緩衝電路的噪聲、放大器的噪聲以及電源的噪聲。

 

因為隨機噪聲的無界性、suijixing，daikuanyuegao
，zaoshengpinpuyuekuan
，moniqianduandianludezaoshengyueda。shiboqidejixianbendizaoshengzhuyaoyouzhebufenjueding，zheyeshipingjiamoniqianduanshejihaohuaidezhongyaozhibiao。

 

2) 模擬信號數字化過程產生的噪聲：主要是ADC的量化噪聲。

 

關於ADC的量化噪聲，貝爾實驗室的W. R. Bennett 1948年發表的經典論文中有一條很有名的公式可以表征：

 

  

以ZDS2022中使用的ADC為例，它的分辨率為8bit，采樣率為1GSa/s，帶寬為200MHz，計算可得ADC量化過程的信噪比為53.9dB。所以在最小垂直檔位2mV/div下的量化噪聲有效值為14uVrms
，基本可以忽略不計
，在該檔位下噪聲主要來自模擬前端。測量10mVpp的方波，波形跡線會變粗，測量誤差主要來自模擬前端的本底噪聲。

 

圖1  2mV/div檔位下測試10mVpp的方波峰峰值誤差

 

但是當垂直檔位越大
，量化噪聲逐漸占主導地位，而模擬前端噪聲雖然會隨著放大器的增益變化產生微小的改變，但是仍然在2mV以下。

 

示波器通常為了防止ADC超出限製
，留了±1div的裕量
，實際垂直幅度範圍為10div，所以在1V/div檔位下ADC的1LSB為40mV左右，按照最大量化誤差±0.5LSB計算，ZDS2022在該檔位下的量化噪聲為40mVpp。測量幅度為5Vpp的方波信號，測量誤差主要來自量化噪聲。

 

圖 2  1V/div檔位測試5Vpp方波信號的峰峰值誤差

 

 

示波器垂直噪聲會從很多方麵影響信號的精確測量
，它會：

 

1) 引入幅度測量誤差；

 

2) 引入sin(x)/x波形重建不確定度
；

 

3) 在進行小信號測量時會導致觸發抖動，無法穩定波形，這時必須設置觸發耦合為高頻抑製
，並適當增大觸發靈敏度。

 

4) 產生顯示不良的“胖波形”。

 

 

jirandizaorucizhongyao
，yaozenmepingguyitaishiboqidedizaone？tongchangrenweishiboqidejixianbendizaoshengshishiboqichuizhidangweizhiyulingminduzuigaotiaojianxiacedede。danshishimianshanghenduoshiboqizaizuigaolingmindudangweixia，youyufangdaqizengyidayu40dB，daikuantongchanghuiyousuojiangdi。suoyiyaobijiaobutongshiboqidedizao，yinggaibaxiangtongdaikuantezhengdeshiboqifangzaiyiqi
，duibitamenzaiquandaikuantiaojianxiazuigaolingmindudangweidejixianbendizaosheng。

 

因為噪聲服從高斯分布
，存在隨機性
、無界性
，噪聲測量中收集的數據越多
，得到的噪聲峰峰值偏移更高，基於這一原因像垂直噪聲和隨機抖動這類隨機現象應使用RMS（均方根）值來進行定義和測量。

 

為了比較各公司不同型號示波器的基線本底噪聲，需要將它們各種設置置於盡量接近的條件，步驟如下：

 

1) 打開通道1，設置為直流耦合，輸入阻抗設置為1MΩ
，關閉帶寬限製，置於2mV/div垂直檔位
；

 

2) 斷開探頭的連接，將輸入端口接地
，並遠離可能耦合進來的噪聲源；

 

3) 將時基檔位設置為20ns/div，存儲深度盡量選擇接近的值；

 

4) 正確設置觸發通道與觸發電平；

 

5) 關閉其他通道（某些型號示波器由於多通道共用單片ADC
、存儲芯片，在開啟多個通道時會降低采樣率、存儲深度等參數）。

 

6) 打開示波器的測量功能，選擇電壓有效值(RMS-AC)測量；

 

7) 為了對比更明顯，設置餘輝時間為10s。

 

下圖分別是ZDS2022、T公司的MDO3054（為了帶寬一致，已開啟250MHz帶寬限製）
、A公司的MSO-X 3012A測試的基線本底噪聲結果。

 

圖3  ZDS2022底噪測試