1 失效背景

 

客戶反饋其生產的某批次產品出現不能正常開機的現象，對失效產品局部加熱後
，產品又能恢複正常工作。

 

2 分析過程簡述

 

1）電性能測試

 

對電路進行排查，結果顯示失效樣品的器件Q2引腳信號出現異常，該器件為N-Channel MOSFET，具體表現為：NG樣品Q2的D極電位正常，但是對G極的反饋信號無動作。Q2不能正常工作致使電源電路的DC3.3V輸出下降，該輸出達不到設計要求
，將會直接導致係統出現不能正常開機。

 

圖1 正常樣品與失效樣品Q2 pin腳信號對比

 

2）外觀檢查和X-Ray透視

 

對樣品進行外觀檢查和X-Ray透視對比，未發現任何異常。

 

3）動態性能測試

 

測試結果顯示：VDS固定，當器件在VGS作用下，DS之間溝道打開，隨著VGS增大，ID也會隨之增大，NG樣品在DS之間溝道打開後，出現ID突然下降至0的情況
，對其進行加熱，該功能性測試即可恢複正常

，靜置一段時間後
，失效現象又會複現。出現上述現象的可能原因包括：a）Q2器件G與S之間存在漏電
，導致加載在G端電壓下降至不足以開啟D與S之間的導電溝道
；b）Q2器件D與S或者G與S之間存在開路。

 

圖3 動態性能測試（VGS-IDD）

 

4）C-SAM+切片+SEM

 

C-SAM測試結果顯示NG樣品固晶層分層明顯；SEM確認了這一現象：1）失效批次樣品的Q2固晶層出現明顯的分層不良
；2）失效批次樣品的固晶層明顯比正常批次樣品厚。

 

圖4 SEM照片

 

3 總結與結論

 

由於客戶無法提供未使用過的失效批次Q2yangpin，yincijinyibudeyanzhengshiyanwufakaizhan，danshijianyushixiaoyangpinjuyoumingxiandepicixingtezhengyijizhengchangyangpinweichuxianleisishixiaoxianxiang，benbaogaorenweishixiaopiciqijiandebenshenzhiliangwentishidaozhibencishixiaodezhijieyuanyin，yuqijianzuzhuangwuguan。

 

作者：章銳華，王君兆，轉載自：美信檢測官網

 

 

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