產品特性：

• PXI半導體套件進一步提升了PXI係統測試通用半導體設備的性能
• 10款最新DC、數字、射頻和開關設備在混合信號芯片測試中有效提升靈活性並減低成本
• HSDIO儀器的NI PXIe-654x係列儀器包括四個全新模塊

• 半導體測試領域

美國國家儀器有限公司（National Instruments
，簡稱NI）近日發布10款最新PXI產品，有效擴展PXI進行混和信號半導體測試的功能。全新以軟件定義的產品套件專為NI LabVIEW圖形化開發係統而設計，包含四個高速數字I/O（HSDIO）儀器
、兩個數字開關、兩個增強射頻儀器
、一個高精度源測量單元（SMU）和專用數字數字矢量文件導入軟件。全新的NI PXI半導體套件包含多種新特性，包括200 MHz單端數字I/O
、10 pA電流分辨率、快速多頻帶射頻測量
、直流/數字開關和波形發生語言（WGL）以及IEEE 1450標準測試接口語言（STIL）文件導入功能。

PXI半導體套件進一步提升了PXI係統測試通用半導體設備的性能，例如測試ADC、DAC
、電源管理IC、無線IC和微電機係統（MEMS）設備。由於其配備的高級功能，相比常用於半導體設備的特征采集、驗證和生產測試的傳統箱式儀器和自動化測試設備（ATD）解決方案，這個套件提供了更高的吞吐量、更強的靈活性和更快的開發時間。

ADI公司工程師David Whitley ：“來自NI的全新混和信號PXI儀器套件能夠導入WGL和STIL設計向量，驗證我們IC設計的數字協議和關鍵時間參數。PXI和LabVIEW為我們提供了靈活的混和信號特征提取平台
，可以用來快速配置定製的測試
，降低產品總開發時間和評估成本。”

HSDIO儀器的NI PXIe-654x係列儀器包括四個全新模塊，提供了高達200 MHz的單端時鍾速率和高達400 Mbpsdeshujusulv，ranggongchengshinenggouceshigaosuxinpiansheji，bingshiyonggengkuaidezidingzhitongxinxieyi。zhegexiliezhongdegaojishuzimokuaibaokuoduozhongfujiatexing，lirushuangxiangtongxin
、實時比特位比較
、雙數據傳輸速率、不同I/O線路的多種定時延遲以及從1.2 V至3.3 V範圍中選擇22個不同電平的功能，提高了數字I/O測試的靈活性。這些新型的I/O設備擴展了NI PXI-654x、PXI-655x和PXI-656x係列高速數字設備
，提供了總共10種高達200 MHz帶有單端和LVDS電平功能的PXI儀器。

新的NI PXI-4132高精度源測量單元(SMU)提供了低至10 pA的電流靈敏度
，用於高分辨率電流測量。它帶有遠程（四線製）傳感和單一輸出的外部保護，在一個PXI插槽中提供了高達±100 V的電壓承受能力。SMU還提供了多個其他改進，包括板載 硬件序列引擎，可用於硬件定時、高速曲線跟蹤和在PXI背板觸發和同步多個PXI-4132 SMU的能力。PXI-4132作為現有的已提供四象限40 W功率輸出（±20V
、±2A）的NI PXI-4130 SMU的補足，為PXI提供了高精度和高功率源測量選項。

新型的NI PXI-2515和NI PXIe-2515數字開關通過幫助工程師將精確直流儀器直接複用到連接在被測芯片的HSDIO線路上，進一步增強了PXI產品套件。全新開關還提供了改進的信號連接特性，用於參數測量，同時還保持了在高速數字邊沿上的信號完整性。

全新NI PXIe-5663E和NI PXIe-5673E 6.6 GHz射頻PXI Express矢(shi)量(liang)信(xin)號(hao)分(fen)析(xi)儀(yi)和(he)矢(shi)量(liang)信(xin)號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)使(shi)用(yong)稱(cheng)為(wei)射(she)頻(pin)列(lie)表(biao)模(mo)式(shi)的(de)新(xin)特(te)性(xing)，通(tong)過(guo)射(she)頻(pin)配(pei)置(zhi)中(zhong)的(de)快(kuai)速(su)和(he)確(que)定(ding)性(xing)的(de)變(bian)化(hua)
，提(ti)供(gong)了(le)增(zeng)強(qiang)的(de)測(ce)量(liang)速(su)度(du)。全(quan)新(xin)功(gong)能(neng)使(shi)工(gong)程(cheng)師(shi)通(tong)過(guo)下(xia)載(zai)預(yu)配(pei)置(zhi)的(de)儀(yi)器(qi)參(can)數(shu)，在(zai)不(bu)同(tong)的(de)射(she)頻(pin)配(pei)置(zhi)之(zhi)間(jian)快(kuai)速(su)循(xun)環(huan)成(cheng)為(wei)可(ke)能(neng)。這(zhe)在(zai)測(ce)試(shi)功(gong)率(lv)放(fang)大(da)器(qi)和(he)其(qi)他(ta)需(xu)要(yao)驗(yan)證(zheng)多(duo)個(ge)頻(pin)率(lv)性(xing)能(neng)的(de)RFIC中尤其有用。這個增加的功能幫助射頻工程師進行比傳統儀器更快的多頻帶射頻測量。

PXI半導體套件還提供了一種有效導入WGL和STIL數字矢量格式的解決方案，從而簡化了使用NI PXI高速數字產品的設計到測試整合。全新的用於NI軟件的TSSI TD掃描是NI與Test Systems Strategies, Inc.（TSSI）合作的產物
，它使得半導體測試工程師將WGL和STIL仿真向量導入PXI係統稱為可能，過去這需要定製軟件開發。可以在www.ni.com得到WGL/STIL軟件工具的評估版

，它支持所有的NI PXI-654x
、PXI-655x以及PXI-656x HSDIO係列產品。