R&S聯合六幺四推出頻域參數測試方案
發布時間：2023-04-23 來源：R&S 責任編輯：wenwei
【導讀】目前400G/800G光模塊或元器件、光子集成芯片和器件等高性能光電元器件在現代超大容量光纖骨幹網絡、雲計算數據中心、高速移動通信係統等領域中發揮著不可替代的作用，其帶寬、幅度響應、相位響應等頻率響應參數決定了整個設施係統的通信容量上限，而帶寬發展的最新趨勢正在從67 GHz向110 GHz演進。
羅德與施瓦茨（以下簡稱“R&S”公司）公司和蘇州六幺四科技聯合推出的頻域參數測試方案——GOCA-110 通用光電元器件分析儀與R&S矢量網絡分析儀協同工作，能夠幫助用戶快速、可靠地實現110 GHz寬頻帶光電元器件多維頻率響應參數測量，助力用戶實現高效率高質量的研發與生產。
該方案集成電-光、光-電、光-光三類元器件的頻域參數測量，測量頻率最高可達110 GHz，測量波長覆蓋C波段 / L波段 / 1310 nm。可實現用戶對於直調激光器、電光調製器、光電探測器、光微環、光柵等光電芯片、器件和模塊的測量，支持S參數、截止頻率、差分/共模參數、延時參數、交調/互調參數、噪聲係數等關鍵數據的獲取，適用於光電元器件研發、生產和應用的整個周期鏈。方案已應用於華為、海思光電子、之江實驗室、國家創新中心等單位。
測試係統方案構成
o R&S 110 GHz矢量網絡分析儀（ZNA係列）
o GOCA-110 光電底座
方案優勢：
o 覆蓋電-光、光-電、光-光三種光學器件性能參數測試
o 具有極低的噪聲、較高的電功率精確度和校準精度
o 波長分辨率1 fm（125 kHz @ 1550 nm）
o 帶寬可達110 GHz
o 各模塊可根據生產、測試需求定製
o 最大程度簡化用戶操作
o 高測試效率
典型指標：
o 測試波長覆蓋：C波段 / L波段 / 1310 nm；其他波段可定製
o 支持外置光源
o 測試頻率：10 MHz ~ 110 GHz
o 幅度不確定度（典型值）：±1.8 dB
o 相位不確定度（典型值）：±2.3°
測試原理：
GOCA-110通用光電元器件分析儀采用“微波光子技術”，突破了傳統方法對測量分辨率和相位精確度的限製。通過寬帶電-光、光-電轉換，實現微波頻譜掃描向光波光譜掃描的映射；配合電-光、光-電和光-光校準技術，輔以高精度的微波幅相接收，實現大帶寬、高精度、高分辨率的電-光、光-電和光-光元器件頻譜響應測試。在頻率分辨率、幅度準確度、相位精確度和動態範圍等關鍵參數上，均完成大幅度提升，實現技術突破。
典型測試案例
1、E/O器件測量：
典型待測件：110 GHz電光調製器
測量結果：
2、O/E器件測量：
典型待測件：110GHz高速光電探測器
測量結果：
3、O/O器件測量：
典型待測件：光波分複用器
測量結果：
GOCA係列通用光電元器件分析儀由專用光電底座和R&SZNA、ZNB等係列矢量網絡分析儀協同構成，不僅可實現電器件參數分析，還可實現用戶對於直調激光器、電光調製器、光電探測器、光微環、光柵等光電芯片、器件和模塊的測量，支持S參數、截止頻率、差分/共模參數、延時參數、交調/互調參數、噪聲係數等關鍵數據的獲取，適用於光電元器件研發、生產和應用的整個周期鏈。
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