中心議題：

• 改進電路設計規程提高可測試性
• 分析良好的可測試性的機械接觸條件

解決方案：

• 通過遵守規程可減少生產測試的費用
• 采用新的測試方法和采用創新性適配器解決方案

隨著微型化程度不斷提高
，元件和布線技術也取得巨大發展，例如BGA外殼封裝的高集成度的微型IC
，以及導體之間的絕緣間距縮小到0.5mm，zhexiejinshiqizhongdelianggelizi。dianziyuanjiandebuxianshejifangshi
，duiyihouzhizuoliuchengzhongdeceshinengfouhenhaojinxing，yingxiangyuelaiyueda。xiamianjieshaojizhongzhongyaoguizejishiyongtishi。

通過遵守一定的規程（DFT-Design for Testability，可測試的設計），keyidadajianshaoshengchanceshidezhunbeiheshishifeiyong。zhexieguichengyijingguoduonianfazhan
，dangran，ruocaiyongxindeshengchanjishuheyuanjianjishu，tamenyeyaoxiangyingdekuozhanheshiying。suizhedianzichanpinjiegouchicunyuelaiyuexiao，muqianchuxianlelianggetebieyinrenzhumudewenti：一是可接觸的電路節點越來越少；二是像在線測試（In-Circuit-Test）zhexiefangfadeyingyongshoudaoxianzhi。weilejiejuezhexiewenti，keyizaidianlubujushangcaiquxiangyingdecuoshi，caiyongxindeceshifangfahecaiyongchuangxinxingshipeiqijiejuefangan。diergewentidejiejuehaishejidaoshiyuanlaizuoweiduligongxushiyongdeceshixitongchengdanfujiarenwu。zhexierenwubaokuotongguoceshixitongduicunchuqizujianjinxingbianchenghuozheshixingjichenghuadeyuanqijianziceshi（Built-in Self Test，BIST，內建的自測試）。jiangzhexiebuzhouzhuanyidaoceshixitongzhongqu
，zongqilaikan，haishichuangzaolegengduodefujiajiazhi。weileshunlidishishizhexiecuoshi，zaichanpinkeyankaifajieduan，jiubixuyouxiangyingdekaolv。

1、什麼是可測試性

可測試性的意義可理解為：測試工程師可以用盡可能簡單的方法來檢測某種元件的特性，看它能否滿足預期的功能。簡單地講就是：

• 檢測產品是否符合技術規範的方法簡單化到什麼程度
  ？
• 編製測試程序能快到什麼程度
  
  ？
• 發現產品故障全麵化到什麼程度？
• 接入測試點的方法簡單化到什麼程度？

為wei了le達da到dao良liang好hao的de可ke測ce試shi必bi須xu考kao慮lv機ji械xie方fang麵mian和he電dian氣qi方fang麵mian的de設she計ji規gui程cheng。當dang然ran，要yao達da到dao最zui佳jia的de可ke測ce試shi性xing，需xu要yao付fu出chu一yi定ding代dai價jia
，但dan對dui整zheng個ge工gong藝yi流liu程cheng來lai說shuo，它ta具ju有you一yi係xi列lie的de好hao處chu
，因yin此ci是shi產chan品pin能neng否fou成cheng功gong生sheng產chan的de重zhong要yao前qian提ti。

2、為什麼要發展測試友好技術

過(guo)去(qu)
，若(ruo)某(mou)一(yi)產(chan)品(pin)在(zai)上(shang)一(yi)測(ce)試(shi)點(dian)不(bu)能(neng)測(ce)試(shi)，那(na)麼(me)這(zhe)個(ge)問(wen)題(ti)就(jiu)被(bei)簡(jian)單(dan)地(di)推(tui)移(yi)到(dao)直(zhi)一(yi)個(ge)測(ce)試(shi)點(dian)上(shang)去(qu)。如(ru)果(guo)產(chan)品(pin)缺(que)陷(xian)在(zai)生(sheng)產(chan)測(ce)試(shi)中(zhong)不(bu)能(neng)發(fa)現(xian)
，則(ze)此(ci)缺(que)陷(xian)的(de)識(shi)別(bie)與(yu)診(zhen)斷(duan)也(ye)會(hui)簡(jian)單(dan)地(di)被(bei)推(tui)移(yi)到(dao)功(gong)能(neng)和(he)係(xi)統(tong)測(ce)試(shi)中(zhong)去(qu)。

xiangfandi
，jintianrenmenshitujinkenengtiqianfaxianquexian
，tadehaochubujinjinshichengbendi，gengzhongyaodeshijintiandechanpinfeichangfuza，mouxiezhizaoquexianzaigongnengceshizhongkenenggenbenjianzhabuchulai。lirumouxieyaoyuxianzhuangruanjianhuobianchengdeyuanjian
，jiucunzaizheyangdewenti。（如快閃存儲器或ISPs：In-System Programmable Devices係統內可編程器件）。這些元件的編程必須在研製開發階段就計劃好，而測試係統也必須掌握這種編程。

ceshiyouhaodedianlushejiyaofeiyixieqian

，raner，ceshikunnandedianlushejifeideqianhuigengduo。ceshibenshenshiyouchengbende，ceshichengbensuizheceshijishudezengjiaerjiada；從cong在zai線xian測ce試shi到dao功gong能neng測ce試shi以yi及ji係xi統tong測ce試shi，測ce試shi費fei用yong越yue來lai越yue大da。如ru果guo跳tiao過guo其qi中zhong一yi項xiang測ce試shi
，所suo耗hao費fei用yong甚shen至zhi會hui更geng大da。一yi般ban的de規gui則ze是shi每mei增zeng加jia一yi級ji測ce試shi費fei用yong的de增zeng加jia係xi數shu是shi10倍。通過測試友好的電路設計
，可以及早發現故障，從而使測試友好的電路設計所費的錢迅速地得到補償。

3
、文件資料怎樣影響可測試性

隻(zhi)有(you)充(chong)分(fen)利(li)用(yong)元(yuan)件(jian)開(kai)發(fa)中(zhong)完(wan)整(zheng)的(de)數(shu)據(ju)資(zi)料(liao)，才(cai)有(you)可(ke)能(neng)編(bian)製(zhi)出(chu)能(neng)全(quan)麵(mian)發(fa)現(xian)故(gu)障(zhang)的(de)測(ce)試(shi)程(cheng)序(xu)。在(zai)許(xu)多(duo)情(qing)況(kuang)下(xia)
，開(kai)發(fa)部(bu)門(men)和(he)測(ce)試(shi)部(bu)門(men)之(zhi)間(jian)的(de)密(mi)切(qie)合(he)作(zuo)是(shi)必(bi)要(yao)的(de)。文(wen)件(jian)資(zi)料(liao)對(dui)測(ce)試(shi)工(gong)程(cheng)師(shi)了(le)解(jie)元(yuan)件(jian)功(gong)能(neng)，製(zhi)定(ding)測(ce)試(shi)戰(zhan)略(lve)，有(you)無(wu)可(ke)爭(zheng)議(yi)的(de)影(ying)響(xiang)。

為(wei)了(le)繞(rao)開(kai)缺(que)乏(fa)文(wen)件(jian)和(he)不(bu)甚(shen)了(le)解(jie)元(yuan)件(jian)功(gong)能(neng)所(suo)產(chan)生(sheng)的(de)問(wen)題(ti)，測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)製(zhi)造(zao)商(shang)可(ke)以(yi)依(yi)靠(kao)軟(ruan)件(jian)工(gong)具(ju)，這(zhe)些(xie)工(gong)具(ju)按(an)照(zhao)隨(sui)機(ji)原(yuan)則(ze)自(zi)動(dong)產(chan)生(sheng)測(ce)試(shi)模(mo)式(shi)，或(huo)者(zhe)依(yi)靠(kao)非(fei)矢(shi)量(liang)相(xiang)比(bi)，非(fei)矢(shi)量(liang)方(fang)法(fa)隻(zhi)能(neng)算(suan)作(zuo)一(yi)種(zhong)權(quan)宜(yi)的(de)解(jie)決(jue)辦(ban)法(fa)。
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測試前的完整的文件資料包括零件表，電路設計圖數據（主要是CAD數據）以及有關務元件功能的詳細資料（如數據表）。隻有掌握了所有信息，才可能編製測試矢量，定義元件失效樣式或進行一定的預調整。

某(mou)些(xie)機(ji)械(xie)方(fang)麵(mian)的(de)數(shu)據(ju)也(ye)是(shi)重(zhong)要(yao)的(de)，例(li)如(ru)那(na)些(xie)為(wei)了(le)檢(jian)查(zha)組(zu)件(jian)的(de)焊(han)接(jie)是(shi)否(fou)良(liang)好(hao)及(ji)定(ding)位(wei)是(shi)否(fou)所(suo)需(xu)要(yao)的(de)數(shu)據(ju)。最(zui)後(hou)，對(dui)於(yu)可(ke)編(bian)程(cheng)的(de)元(yuan)件(jian)，如(ru)快(kuai)閃(shan)存(cun)儲(chu)器(qi)，PLD、FPGAdeng
，ruguobushizaizuihouanzhuangshicaibiancheng
，shizaiceshixitongshangjiuyingbianhaochengxudehua，yebixuzhidaogezidebianchengshuju。kuaishanyuanjiandebianchengshujuyingwanzhengwuque。rukuaishanxinpianhan16Mbit的數據，就應該可以用到16Mbit
，這樣可以防止誤解和避免地址衝突。例如，如果用一個4Mbit存儲器向一個元件僅僅提供300Kbit數據，就可能出現這種情況。當然數據應準備成流行的標準格式，如Intel公司的Hex或Motorola公司的S記錄結構等。大多數測試係統，隻要能夠對快閃或ISP元yuan件jian進jin行xing編bian程cheng，是shi可ke以yi解jie讀du這zhe些xie格ge式shi的de。前qian麵mian所suo提ti到dao的de許xu多duo信xin息xi，其qi中zhong許xu多duo也ye是shi元yuan件jian製zhi造zao所suo必bi須xu的de。當dang然ran，在zai可ke製zhi造zao性xing和he可ke測ce試shi性xing之zhi間jian應ying明ming確que區qu別bie，因yin為wei這zhe是shi完wan全quan不bu同tong的de概gai念nian，從cong而er構gou成cheng不bu同tong的de前qian提ti。

4、良好的可測試性的機械接觸條件

如ru果guo不bu考kao慮lv機ji械xie方fang麵mian的de基ji本ben規gui則ze，即ji使shi在zai電dian氣qi方fang麵mian具ju有you非fei常chang良liang好hao的de可ke測ce試shi性xing的de電dian路lu，也ye可ke能neng難nan以yi測ce試shi。許xu多duo因yin素su會hui限xian製zhi電dian氣qi的de可ke測ce試shi性xing。如ru果guo測ce試shi點dian不bu夠gou或huo太tai小xiao，探tan針zhen床chuang適shi配pei器qi就jiu難nan以yi接jie觸chu到dao電dian路lu的de每mei個ge節jie點dian。如ru果guo測ce試shi點dian位wei置zhi誤wu差cha和he尺chi寸cun誤wu差cha太tai大da，就jiu會hui產chan生sheng測ce試shi重zhong複fu性xing不bu好hao的de問wen題ti。在zai使shi用yong探tan針zhen床chuang配pei器qi時shi，應ying留liu意yi一yi係xi列lie有you關guan套tao牢lao孔kong與yu測ce試shi點dian的de大da小xiao和he定ding位wei的de建jian議yi

5、最佳可測試性的電氣前提條件

電dian氣qi前qian提ti條tiao件jian對dui良liang好hao的de可ke測ce試shi性xing，和he機ji械xie接jie觸chu條tiao件jian一yi樣yang重zhong要yao，兩liang者zhe缺que一yi不bu可ke。一yi個ge門men電dian路lu不bu能neng進jin行xing測ce試shi，原yuan因yin可ke能neng是shi無wu法fa通tong過guo測ce試shi點dian接jie觸chu到dao啟qi動dong輸shu入ru端duan，也ye可ke能neng是shi啟qi動dong輸shu入ru端duan處chu在zai封feng裝zhuang殼ke內nei
，外wai部bu無wu法fa接jie觸chu，在zai原yuan則ze上shang這zhe兩liang情qing況kuang同tong樣yang都dou是shi不bu好hao的de，都dou使shi測ce試shi無wu法fa進jin行xing。在zai設she計ji電dian路lu時shi應ying該gai注zhu意yi，凡fan是shi要yao用yong在zai線xian測ce試shi法fa檢jian測ce的de元yuan件jian，都dou應ying該gai具ju備bei某mou種zhong機ji理li，使shi各ge個ge元yuan件jian能neng夠gou在zai電dian氣qi上shang絕jue緣yuan起qi來lai。這zhe種zhong機ji理li可ke以yi借jie助zhu於yu禁jin止zhi輸shu入ru端duan來lai實shi現xian

，它ta可ke以yi將jiang元yuan件jian的de輸shu出chu端duan控kong製zhi在zai靜jing態tai的de高gao歐ou姆mu狀zhuang態tai。

雖然幾乎所有的測試係統都能夠逆驅動（Backdriving）方式將某一節點的狀態帶到任意狀態，但是所涉及的節點最好還是要備有禁止輸入端
，首先將此節點帶到高歐姆狀態
，然後再“平緩地”加上相應的電平。

同樣
，節拍發生器總是通過啟動引線，門電路或插接電橋從振蕩器後麵直接斷開。啟動輸入端決不可直接與電路相連，而是通過100oumudedianzuyudianlulianjie。meigeyuanjianyingyouzijideqidong，fuweihuokongzhiyinxianjiao。bixubimianxuduoyuanjiandeqidongshuruduangongyongyigedianzuyudianluxianglian。zhetiaoguizeduiyuASIC元yuan件jian也ye適shi用yong，這zhe些xie元yuan件jian也ye應ying有you一yi個ge引yin線xian腳jiao，通tong過guo它ta
，可ke將jiang輸shu出chu端duan帶dai到dao高gao歐ou姆mu狀zhuang態tai。如ru果guo元yuan件jian在zai接jie通tong工gong作zuo電dian壓ya時shi可ke實shi行xing複fu位wei，這zhe對dui於yu由you測ce試shi器qi來lai引yin發fa複fu位wei也ye是shi非fei常chang有you幫bang助zhu的de。在zai這zhe種zhong情qing況kuang下xia，元yuan件jian在zai測ce試shi前qian就jiu可ke以yi簡jian單dan地di置zhi於yu規gui定ding的de狀zhuang態tai。

buyongdeyuanjianyinxianjiaotongyangyeyinggaishikejiechude，yinweizaizhexiedifangweifaxiandeduanluyekenengzaochengyuanjianguzhang。ciwai
，buyongdemendianluwangwangzaiyihouhuibeiliyongyushejigaijin，tamenkenenghuigaijiedaodianluzhonglai。suoyitongyangzhongyaodeshi，tamencongyikaishijiuyingjingguoceshi，yibaozhengqigongjiankekao。