產品特性：

• 加速並簡化了S530測試係統到測試平台的集成
• 軟件兼容性強
• 長期穩定型好
  ，易於維護

應用範圍：

• 高吞吐量晶圓生產測試

先進電氣測試儀器與係統的世界級領導者吉時利儀器公司發布了獲得業界好評的吉時利測試環境（KTE）半導體測試軟件的升級版。KTE V5.3是專為配合吉時利迄今為止最快、最經濟有效的過程控製監控方案產品線S530參數測試係統設計的。

KTE是一款強大的測試開發和運行軟件平台，全球有數百家半導體晶圓廠都在使用吉時利前幾代的參數測試係統。現在，吉時利的S530測試係統利用這個被業界長期驗證的軟件平台在最苛刻的生產環境中實現了靈活的測試計劃開發和高速測試。現有吉時利S400和S600係列參數測試儀用戶將特別受益於S530係統上的KTE V5.3，因為可以將既有測量程序輕鬆地移植到S530，而且現有測試儀和新的S530係統可以共享同一個測試計劃。

將KTE測試開發和運行環境擴展至S530係統結合了吉時利30年的參數測試代碼開發實踐經驗和市場上最快、最先進的係統硬件優勢。S530儀器提供過程控製監控等參數測試應用要求的高速度和寬測量範圍。

吉(ji)時(shi)利(li)致(zhi)力(li)於(yu)讓(rang)新(xin)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)高(gao)度(du)兼(jian)容(rong)較(jiao)早(zao)的(de)係(xi)統(tong)支(zhi)持(chi)吉(ji)時(shi)利(li)參(can)數(shu)測(ce)試(shi)客(ke)戶(hu)。保(bao)持(chi)軟(ruan)件(jian)兼(jian)容(rong)性(xing)的(de)承(cheng)諾(nuo)確(que)保(bao)了(le)移(yi)植(zhi)路(lu)徑(jing)更(geng)為(wei)平(ping)滑(hua)並(bing)能(neng)在(zai)測(ce)試(shi)平(ping)台(tai)上(shang)加(jia)入(ru)更(geng)新(xin)、更geng高gao速su測ce試shi儀yi以yi保bao護hu晶jing圓yuan廠chang的de測ce試shi軟ruan件jian投tou資zi。對dui於yu吉ji時shi利li參can數shu測ce試shi的de新xin客ke戶hu，恪ke守shou係xi統tong軟ruan件jian連lian續xu性xing的de承cheng諾nuo意yi味wei著zhe客ke戶hu會hui對dui基ji於yu業ye界jie長chang期qi驗yan證zheng軟ruan件jian的de測ce試shi係xi統tong充chong滿man信xin心xin。

對於已經使用KTE較早版本的客戶來說


，KTE V5.3加速並簡化了S530測試係統到測試平台的集成。
• 同(tong)一(yi)種(zhong)測(ce)試(shi)方(fang)法(fa)和(he)測(ce)試(shi)方(fang)案(an)適(shi)用(yong)於(yu)所(suo)有(you)吉(ji)時(shi)利(li)自(zi)動(dong)參(can)數(shu)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)，這(zhe)不(bu)僅(jin)縮(suo)短(duan)了(le)使(shi)用(yong)多(duo)個(ge)係(xi)統(tong)的(de)測(ce)試(shi)工(gong)程(cheng)師(shi)和(he)操(cao)作(zuo)人(ren)員(yuan)的(de)學(xue)習(xi)過(guo)程(cheng)
，而(er)且(qie)在(zai)測(ce)試(shi)平(ping)台(tai)增(zeng)加(jia)新(xin)的(de)高(gao)速(su)係(xi)統(tong)或(huo)取(qu)代(dai)較(jiao)早(zao)平(ping)台(tai)時(shi)提(ti)供(gong)平(ping)滑(hua)的(de)移(yi)植(zhi)路(lu)徑(jing)以(yi)保(bao)護(hu)晶(jing)圓(yuan)廠(chang)的(de)測(ce)試(shi)開(kai)發(fa)投(tou)入(ru)。
• 用戶隻需重新編譯和重新生成多年來為更早的吉時利係統開發的常用用戶庫，就能繼續在S530上使用這些用戶庫。通常，隻需進行少量調試。
• KTE V5.3簡化了創建條件測試序列的新用戶訪問點（UAP）源代碼以及定製S530的係統工作流程。為早期吉時利係統開發的UAP源代碼適用於S530係統
，隻需作少量調整。
• KTE的工具對吉時利所有參數測試平台都具有完全相同的功能性。

麵向S530的KTE適於在標準工業PC的Linux操作係統上運行以確保長期穩定性和易於維護性。該軟件已針對高吞吐率生產測試環境作了速度和擴展可靠性的優化。運行KTE V5.3的S530係統能實現過程控製監控


、過程可靠性監控和器件特性分析要求的全部直流I-V和C-V測量。S530係xi統tong針zhen對dui必bi須xu適shi應ying廣guang泛fan產chan品pin組zu合he的de生sheng產chan參can數shu測ce試shi環huan境jing，或huo者zhe在zai寬kuan範fan圍wei應ying用yong靈ling活huo性xing和he快kuai速su測ce試shi方fang案an開kai發fa等deng至zhi關guan重zhong要yao的de場chang合he中zhong的de使shi用yong進jin行xing了le優you化hua。