新型元器件應用和係統測試技術應對電磁兼容設計挑戰
發布時間:2010-03-18 來源:電子元件技術網
新聞事件:
在即將於4月9日在深圳會展中心牡丹廳舉行的第四屆電路保護與電磁兼容技術研討會上,村田、太陽誘電、3-test(蘇州泰思特)的專家將與聽眾朋友們分享EMI和EMC的設計和測試難點和最新解決方案,此外,特邀嘉賓陶顯芳老師將分享降低EMI能量、提高EMC指標的經驗。
村田製作所將在大會上與聽眾朋友分享DiiVA接口設計相關的解決方案。DiiVA作為一種新的“中國標準”高清接口,在首款發送和接收芯片發布不久,即得到了國際大廠的支持,顯示出非常有利的前景。村田高級工程師範為俊表示:“為了保證DiiVA各方麵的性能,比如數據傳輸、ESD、EMI等等,對周邊的被動件比如電容、磁珠、共模扼圈、ESD器件等有自己特殊的要求。 ”
taiyangyoudianzhushihuisheyoufengfudedianzijianronghebaohuqijianyuanjianchanpinxian,sheyoufangbianzhazhaodezaixianxuanzegongju。taiyangyoudianzhushihuishedejishuzhuanjiajiangyutingzhongpengyoufenxiangfushezaoyindefashengguilvhezuixinfushedianchangguigedongxiang,baokuodianganchanpinshichangdongxiang、電感技術、EMC技術以及如何使用鐵氧體磁珠和如何選擇共模扼流線圈等等。
基(ji)於(yu)單(dan)片(pian)機(ji)的(de)電(dian)子(zi)設(she)備(bei)的(de)傳(chuan)導(dao)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)噪(zao)聲(sheng)問(wen)題(ti)不(bu)容(rong)忽(hu)視(shi),了(le)解(jie)傳(chuan)導(dao)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)噪(zao)聲(sheng)產(chan)生(sheng)機(ji)理(li)有(you)助(zhu)於(yu)對(dui)該(gai)係(xi)統(tong)的(de)傳(chuan)導(dao)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)問(wen)題(ti)進(jin)行(xing)診(zhen)斷(duan)與(yu)抑(yi)製(zhi)。蘇(su)州(zhou)泰(tai)思(si)特(te)專(zhuan)家(jia)將(jiang)與(yu)大(da)家(jia)分(fen)享(xiang)單(dan)片(pian)機(ji)係(xi)統(tong)傳(chuan)導(dao)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)噪(zao)聲(sheng)問(wen)題(ti)解(jie)決(jue)方(fang)案(an)。通(tong)過(guo)對(dui)於(yu)單(dan)片(pian)機(ji)係(xi)統(tong)傳(chuan)導(dao)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)噪(zao)聲(sheng)的(de)模(mo)態(tai)提(ti)取(qu),得(de)到(dao)該(gai)噪(zao)聲(sheng)的(de)共(gong)模(mo)分(fen)量(liang)和(he)差(cha)模(mo)分(fen)量(liang);同(tong)時(shi)測(ce)定(ding)該(gai)噪(zao)聲(sheng)源(yuan)的(de)內(nei)阻(zu)抗(kang)並(bing)與(yu)相(xiang)應(ying)噪(zao)聲(sheng)模(mo)態(tai)相(xiang)結(jie)合(he),從(cong)而(er)設(she)計(ji)出(chu)相(xiang)應(ying)的(de)濾(lv)波(bo)器(qi)用(yong)以(yi)抑(yi)製(zhi)該(gai)係(xi)統(tong)的(de)傳(chuan)導(dao)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)噪(zao)聲(sheng),以(yi)解(jie)決(jue)單(dan)片(pian)機(ji)係(xi)統(tong)的(de)傳(chuan)導(dao)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)問(wen)題(ti)。
除(chu)了(le)各(ge)大(da)廠(chang)商(shang)的(de)積(ji)極(ji)參(can)與(yu),此(ci)次(ci)會(hui)議(yi)還(hai)邀(yao)請(qing)了(le)了(le)陶(tao)顯(xian)芳(fang)老(lao)師(shi)介(jie)紹(shao)電(dian)磁(ci)兼(jian)容(rong)設(she)計(ji)的(de)經(jing)驗(yan)之(zhi)談(tan)。陶(tao)老(lao)師(shi)是(shi)電(dian)磁(ci)兼(jian)容(rong)領(ling)域(yu)的(de)專(zhuan)家(jia),曾(zeng)任(ren)康(kang)佳(jia)集(ji)團(tuan)彩(cai)電(dian)技(ji)術(shu)中(zhong)心(xin)總(zong)體(ti)技(ji)術(shu)設(she)計(ji)所(suo)所(suo)長(chang),從(cong)事(shi)技(ji)術(shu)工(gong)作(zuo)40年,相信對聽眾朋友們的EMC設計會有很大的幫助。
EMC設計一直是困擾電路設計師進行電子產品線路設計的首要問題。除了對EMC的討論,本次研討會還邀請了Littelfuse、Bourns、AEM、順絡電子、Sino-IC、binchengdianzidengguojihebentudianlubaohuqijiandelingjunchangshangtantaodianlubaohudewenti。dianlubaohuhediancijianrongjishuyantaohuiyijingjuxinglesanjie,meiyijiedouxiyinledaliangdeshejigongchengshiheyanfaxiangmujinglidecanyu。yinzuoweiyouxian,qinggongchengshipengyouqiangxianwangshangzhuceyudingzuoxi: http://www.0-fzl.cn/seminar/emc
- 4月9日,深圳會展中心牡丹廳即將舉行第四屆電路保護與電磁兼容技術研討會
- 村田、太陽誘電、3-test將與大家分享EMI和EMC的設計和測試難點和最新解決方案
- 陶顯芳老師將分享降低EMI能量、提高EMC指標的經驗
在即將於4月9日在深圳會展中心牡丹廳舉行的第四屆電路保護與電磁兼容技術研討會上,村田、太陽誘電、3-test(蘇州泰思特)的專家將與聽眾朋友們分享EMI和EMC的設計和測試難點和最新解決方案,此外,特邀嘉賓陶顯芳老師將分享降低EMI能量、提高EMC指標的經驗。
村田製作所將在大會上與聽眾朋友分享DiiVA接口設計相關的解決方案。DiiVA作為一種新的“中國標準”高清接口,在首款發送和接收芯片發布不久,即得到了國際大廠的支持,顯示出非常有利的前景。村田高級工程師範為俊表示:“為了保證DiiVA各方麵的性能,比如數據傳輸、ESD、EMI等等,對周邊的被動件比如電容、磁珠、共模扼圈、ESD器件等有自己特殊的要求。 ”
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