示(shi)波(bo)器(qi)是(shi)一(yi)種(zhong)較(jiao)為(wei)常(chang)見(jian)的(de)測(ce)試(shi)測(ce)量(liang)設(she)備(bei)，其(qi)能(neng)夠(gou)將(jiang)肉(rou)眼(yan)不(bu)可(ke)見(jian)得(de)電(dian)信(xin)號(hao)轉(zhuan)化(hua)為(wei)能(neng)夠(gou)被(bei)肉(rou)眼(yan)看(kan)到(dao)的(de)圖(tu)形(xing)
，能(neng)夠(gou)幫(bang)助(zhu)設(she)計(ji)者(zhe)對(dui)電(dian)路(lu)進(jin)行(xing)檢(jian)測(ce)或(huo)著(zhe)進(jin)行(xing)數(shu)據(ju)的(de)采(cai)集(ji)，在(zai)電(dian)子(zi)電(dian)力(li)設(she)備(bei)當(dang)中(zhong)占(zhan)有(you)較(jiao)為(wei)重(zhong)要(yao)的(de)地(di)位(wei)。EMI問題一直都是電源類產品設計者所要麵對的問題，其關係到產品是否能夠順利進入市場。那麼，大家想過將示波器用於EMI的檢測嗎?本篇文章就將介紹這麼一種方法，來使用示波器對EMI進行調試。

 

早期的示波器並沒有能夠準確捕捉EMI信號所必備的靈敏度
，並且FFT頻譜分析功能也不夠完善
，操作起來十分繁瑣。而在後來的發展當中，一些示波器已經發展出了能夠對EMI進行調試的功能。今天將要介紹的這種方法利用輸入回路的共模電流進行測量。
 

圖1

 

正確的測量方式如圖1所示，圖中，CI為共模幹擾、DI為差模幹擾
，V1 = CI − DI、V2 = CI + DI、V3 = DI，R1
、R2、R3、R4為接地電阻
，C1為分布電容。

 

接下來的步驟較為簡單，需要借助示波器來對V1

、V2
、V3的這三個參數的數值進行測量，然後通過上述提到的關係式就能將EMI傳導幹擾信號計算出來。但問題是
，在V1
、V2、V3中還含有一個50周的交流信號
，這個信號幅度相對於EMI信(xin)號(hao)來(lai)說(shuo)
，非(fei)常(chang)高(gao)

，其(qi)幅(fu)度(du)是(shi)數(shu)百(bai)伏(fu)，而(er)幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)一(yi)般(ban)隻(zhi)有(you)幾(ji)十(shi)微(wei)伏(fu)到(dao)幾(ji)毫(hao)伏(fu)。由(you)於(yu)示(shi)波(bo)器(qi)的(de)動(dong)態(tai)範(fan)圍(wei)很(hen)有(you)限(xian)，無(wu)法(fa)同(tong)時(shi)觀(guan)測(ce)這(zhe)兩(liang)個(ge)信(xin)號(hao)，必(bi)須(xu)要(yao)先(xian)對(dui)幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)與(yu)電(dian)網(wang)電(dian)壓(ya)進(jin)行(xing)分(fen)離(li)（用高通濾波器）。

 

另一點需要注意的是場地問題，如果測試的環境不是在屏蔽室當中，那麼由於分布電容C1的數值很小（即幹擾信號的內阻很大）

，而示波器的輸入阻抗一般都很高，在V1、V2、V3中還會含有其它幹擾信號，如果不仔細進行分析，很難把本機的EMI幹擾信號與外來幹擾信號分辨出來。還有，由於分布電容C1的大小與設備對地的位置有關，每次測試結果可能都不一樣。

 

最後需要提醒大家的是，對EMC進行的所有測試都需正式的測量儀器、場地、權威部門製定的方案來進行
，否則就算通過其他方法得到了結果
，也隻能僅僅作為參考。