靜電放電是CMOS電路中最為嚴重的失效機理之一，嚴重的會造成電路自我燒毀。論述了CMOS集成電路ESD保護的必要性
，研究了在CMOS電路中ESD保護結構的設計原理
，分析了該結構對版圖的相關要求，重點討論了在I/O電路中ESD保護結構的設計要求。

　　

　　

靜電放電會給電子器件帶來破壞性的後果，它是造成集成電路失效的主要原因之一。隨著集成電路工藝不斷發展，CMOS電路的特征尺寸不斷縮小，管子的柵氧厚度越來越薄
，芯片的麵積規模越來越大，MOS管能承受的電流和電壓也越來越小，而外圍的使用環境並未改變，因此要進一步優化電路的抗ESD性能
，如何使全芯片有效麵積盡可能小
、ESD性能可靠性滿足要求且不需要增加額外的工藝步驟成為IC設計者主要考慮的問題。

　　

　　

ESD保護電路的設計目的就是要避免工作電路成為ESD的放電通路而遭到損害，保證在任意兩芯片引腳之間發生的ESD，都有適合的低阻旁路將ESD電流引入電源線。這個低阻旁路不但要能吸收ESD電流，還要能箝位工作電路的電壓，防止工作電路由於電壓過載而受損。在電路正常工作時

，抗靜電結構是不工作的，這使ESD保護電路還需要有很好的工作穩定性

，能在ESD發生時快速響應
，在保護電路的同時
，抗靜電結構自身不能被損壞，抗靜電結構的負作用（例如輸入延遲）必須在可以接受的範圍內，並防止抗靜電結構發生閂鎖。

　　

　　

大部分的ESD電流來自電路外部，因此ESD保護電路一般設計在PAD旁
，I/O電路內部。典型的I/O電路由輸出驅動和輸入接收器兩部分組成。ESD通過PAD導入芯片內部
，因此I/O裏所有與PAD直接相連的器件都需要建立與之平行的ESD低阻旁路，將ESD電流引入電壓線，再由電壓線分布到芯片各個管腳，降低ESD的影響。具體到I/O電路，就是與PAD相連的輸出驅動和輸入接收器，必須保證在ESD發生時，形成與保護電路並行的低阻通路，旁路ESD電流，且能立即有效地箝位保護電路電壓。而在這兩部分正常工作時，不影響電路的正常工作。

　　

常用的ESD保護器件有電阻、二極管
、雙極性晶體管、MOS管、可控矽等。由於MOS管與CMOS工藝兼容性好，因此常采用MOS管構造保護電路。

　　

CMOS工藝條件下的NMOS管有一個橫向寄生n-p-n（源極-p型襯底-漏極）晶體管，這個寄生的晶體管開啟時能吸收大量的電流。利用這一現象可在較小麵積內設計出較高ESD耐壓值的保護電路
，其中最典型的器件結構就是柵極接地NMOS（GGNMOS，GateGroundedNMOS）。

　　

在正常工作情況下，NMOS橫向晶體管不會導通。當ESDfashengshi
，loujihechendidehaojinqujiangfashengxuebeng，bingbansuizhedianzikongxueduidechansheng。yibufenchanshengdekongxuebeiyuanjixishou，qiyudeliuguochendi。youyuchendidianzuRsub的存在，使襯底電壓提高。當襯底和源之間的PN結正偏時，電子就從源發射進入襯底。這些電子在源漏之間電場的作用下
，被加速
，產生電子、空穴的碰撞電離，從而形成更多的電子空穴對，使流過n-p-n晶體管的電流不斷增加，最終使NMOS晶體管發生二次擊穿，此時的擊穿不再可逆，則NMOS管損壞。

　　

為了進一步降低輸出驅動上NMOS在ESD時兩端的電壓
，可在ESD保護器件與GGNMOS之間加一個電阻。這個電阻不能影響工作信號

，因此不能太大。畫版圖時通常采用多晶矽（poly）電阻。

　　

隻采用一級ESD保護，在大ESD電流時，電路內部的管子還是有可能被擊穿。GGNMOS導通，由於ESD電流很大，襯底和金屬連線上的電阻都不能忽略
，此時GGNMOS並不能箝位住輸入接收端柵電壓，因為讓輸入接收端柵氧化矽層的電壓達到擊穿電壓的是GGNMOS與輸入接收端襯底間的IR壓降。為避免這種情況，可在輸入接收端附近加一個小尺寸GGNMOS進行二級ESD保護，用它來箝位輸入接收端柵電壓，如圖1所示。

圖1常見ESD的保護結構和等效電路。

　　

在畫版圖時
，必須注意將二級ESD保護電路緊靠輸入接收端，以減小輸入接收端與二級ESD保護電路之間襯底及其連線的電阻。為了在較小的麵積內畫出大尺寸的NMOS管子，在版圖中常把它畫成手指型，畫版圖時應嚴格遵循I/OESD的設計規則。

　　

如果PAD僅作為輸出，保護電阻和柵短接地的NMOS就不需要了，其輸出級大尺寸的PMOS和NMOS器件本身便可充當ESD防護器件來用，一般輸出級都有雙保護環
，這樣可以防止發生閂鎖。

　　

（1）外圍VDD
、VSS走線盡可能寬
，減小走線上的電阻;（2）設計一種VDD-VSS之間的電壓箝位結構，且在發生ESD時能提供VDD-VSS直接低阻抗電流泄放通道。對於麵積較大的電路，最好在芯片的四周各放置一個這樣的結構，若有可能，在芯片外圍放置多個VDD、VSS的PAD，也可以增強整體電路的抗ESD能力;（3）外圍保護結構的電源及地的走線盡量與內部走線分開，外圍ESD保護結構盡量做到均勻設計
，避免版圖設計上出現ESD薄弱環節;（4）ESD保護結構的設計要在電路的ESD性能、芯片麵積、保護結構對電路特性的影響如輸入信號完整性、電路速度、輸出驅動能力等進行平衡考慮設計
，還需要考慮工藝的容差，使電路設計達到最優化;（5）在實際設計的一些電路中
，有時沒有直接的VDD-VSS電壓箝位保護結構，此時
，VDD-VSS之間的電壓箝位及ESD電流泄放主要利用全芯片整個電路的阱與襯底的接觸空間。所以在外圍電路要盡可能多地增加阱與襯底的接觸，且N+P+的間距一致。若有空間，則最好在VDD、VSS的PAD旁邊及四周增加VDD-VSS電壓箝位保護結構
，這樣不僅增強了VDD-VSS模式下的抗ESD能力，也增強了I/O-I/O模式下的抗ESD能力。

　　

一般隻要有了上述的大致原則，在與芯片麵積折中的考慮下，一般亞微米CMOS電路的抗ESD電壓可達到2500V以上，已經可以滿足商用民品電路設計的ESD可靠性要求。

　　

對於深亞微米超大規模CMOSIC的ESD結構設計
，常規的ESD保護結構通常不再使用了
，通常大多是深亞微米工藝的Foundry生產線都有自己外圍標準的ESD結構提供
，有嚴格標準的ESD結構設計規則等，設計師隻需調用其結構就可以了，這可使芯片設計師把更多精力放在電路本身的功能
、性能等方麵的設計。

　　

　　

ESD保護設計隨著CMOS工藝水平的提高而越來越困難，ESD保護已經不單是輸入腳或輸出腳的ESD保護設計問題
，而是全芯片的靜電防護問題。

　　

芯片裏每一個I/O電路中都需要建立相應的ESD保護電路
，此外還要從整個芯片全盤考慮，采用整片（whole-chip）防護結構是一個好的選擇
，也能節省I/OPAD上ESD元件的麵積。