什麼是EMI測試吞吐率

吞吐率是一種關於計算機或者數據通信係統（如網橋

、路由器、網關或廣域網連接等）數據傳輸速率的測度
，通常是對一個係統和它的部件處理傳輸數據請求能力的總體評價。由於EMI測試按照目的可以分為達標測試和診斷測試

，因此吞吐率在EMI測試中也有兩種含義：在達標測試中
，EMI測試吞吐率是指確定並且書麵報告DUT通過所需EMI測試的速度；在診斷測試中，EMI測試吞吐率還要包括對於沒有通過所需EMI測試的DUT
，診斷並且解決問題所花費的時間。
        
對於電子產品來說，EMC測試已經成為與安規測試同等重要的基礎測試，越來越多的EMC實驗室不僅從測試方法、測試精度上對自己的測試能力進行改進，而且也越來越關注測試吞吐率，10 m暗室雙天線法就是一個例子，這歸根結底還是與降低測試成本密不可分的。一個EMC測試實驗室的建設包括土建、暗室建設
、設備購買以及係統集成等大量的成本投入，以美國為例
，一個10 m暗室至少需要200萬美元的固定投入
，因此如何提高固定資產利用率
，加快實驗室建設成本的收回速度

，成為每個EMC測試實驗室不得不關心的問題。對於電子產品生產廠家而言

，如何盡快的利用測試設備找到產品的EMC問題並且加以有效整改
，加快新產品上市時間，搶占更多的市場份額，也是他們所麵對的重要問題。
        
有哪些因素限製了EMC測試的吞吐率呢？眾所周知，EMC測試分為EMS和EMI兩大類，按照傳導路徑不同，EMI測試又進而分為傳導發射（CE）和輻射發射（RE）兩部分，而輻射發射測試由於其係統複雜成為EMC測試中最耗時的部分，下圖是民標輻射發射的測試係統示意圖。為了尋找DUT的de最zui大da輻fu射she發fa射she，測ce試shi過guo程cheng中zhong需xu要yao轉zhuan動dong轉zhuan台tai，升sheng降jiang天tian線xian，同tong時shi使shi用yong接jie收shou機ji或huo者zhe頻pin譜pu儀yi進jin行xing掃sao描miao，其qi中zhong每mei一yi個ge模mo塊kuai的de動dong作zuo都dou會hui影ying響xiang測ce試shi速su度du。當dang然ran，測ce試shi人ren員yuan的de能neng力li與yu經jing驗yan，對dui於yuEMI測試速度的改善也至關重要。

圖1：民標輻射發射測試係統示意圖 

從另外一個方麵來看，輻射發射需要測試的物理量是場強，然而該待測物理量是DUT方位角、天線高度、頻率
、時間等變量組成的多維函數，對於多個變量進行遍曆測試花費的時間無疑是漫長的。以ITE設備為例（CISPR 22），完成一個完整輻射發射達標測試往往需要4、5個小時
，如果需要診斷整改，需要的時間還要長的多。下麵我們以輻射發射測試為例
，簡要分析如何改善EMI測試吞吐率。

如何改善EMI測試吞吐率
        
根據標準測試方法的要求以及多數主流EMC測試實驗室的測試流程
，總結得到輻射發射測試典型的流程如圖。

圖2：典型輻射發射測試流程

在輻射發射測試開始前，首先需要明確DUT屬於哪種類型
，需要遵從哪個EMC標準進行測試，按照測試方法要求擺放好DUT，並準備測試記錄文檔。對於大部分民標來說，1 GHz以下的極限線大多是準峰值極限線，而準峰值檢波器是速度很慢的一種檢波器，如果使用準峰值檢波器從30 MHz掃描到1 GHz，很(hen)可(ke)能(neng)要(yao)花(hua)上(shang)一(yi)兩(liang)天(tian)時(shi)間(jian)
，那(na)麼(me)既(ji)符(fu)合(he)測(ce)試(shi)標(biao)準(zhun)的(de)要(yao)求(qiu)又(you)能(neng)加(jia)快(kuai)測(ce)試(shi)吞(tun)吐(tu)率(lv)呢(ne)？根(gen)據(ju)檢(jian)波(bo)器(qi)工(gong)作(zuo)原(yuan)理(li)
，峰(feng)值(zhi)檢(jian)波(bo)得(de)到(dao)的(de)幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)幅(fu)值(zhi)一(yi)定(ding)大(da)於(yu)等(deng)於(yu)準(zhun)峰(feng)值(zhi)檢(jian)波(bo)器(qi)，即(ji)EMI Peak ≥ EMI Quasi-peak（當幹擾信號是窄帶時，兩個檢波器得到的幅值相等），erfengzhijianboqidegongzuosudubizhunfengzhijianboqikuaideduo，yinciweiletigaoceshituntulv，tongchangxianyongfengzhijianboqijinxingyusaomiao
，ranhoujiangdedaodeganraoxinhaodefuzhiyuzhunfengzhijixianxianjinxingbidui。ruguomougepindianshangganraoxinhaodefengzhijianbozhidiyuzhunfengzhijixianzhi，namegaipindianshangdeganraoxinhaodezhunfengzhijianbozhiyidingyediyuzhunfengzhijixianzhi，yincijiububizaigaipindianshangzaijinxingzhunfengzhijianbole。raner，ruguomouxiepindianshangganraoxinhaodefengzhijianbozhichaoguolezhunfengzhijixianzhi，namezhexiepindianshangdeganraoxinhaojiuchengweikeyiganraoxinhao

，xuyaoshaixuanzhexiepinlvdian，jinyibushiyongzhunfengzhijianboqijinxingceliang，jiujinrulexiayigebuzhou，jikongjianzuidahua。zaikongjianzuidahuabuzhouzhong，xuyaozhuandongzhuantai，tiaojietianxianjia
，shiyongzhunfengzhijianboqijianshikeyipindianshangganraoxinhaofuzhidebianhua，zhidaozhaodaozuidazhi。ruguosuoyoukeyixinhaodezhunfengzhijianbodezuidazhidoudiyuzhunfengzhijixianxian，namegaiDUT達標測試通過
，否則還需要進行診斷整改 。實際上
，70%的電子產品在第一次進行輻射發射測試時是無法通過標準要求的，因此診斷整改對於EMC測(ce)試(shi)實(shi)驗(yan)室(shi)來(lai)說(shuo)也(ye)是(shi)非(fei)常(chang)重(zhong)要(yao)的(de)一(yi)個(ge)環(huan)節(jie)。診(zhen)斷(duan)整(zheng)改(gai)大(da)多(duo)使(shi)用(yong)頻(pin)譜(pu)儀(yi)峰(feng)值(zhi)檢(jian)波(bo)快(kuai)速(su)掃(sao)描(miao)進(jin)行(xing)，這(zhe)樣(yang)可(ke)以(yi)迅(xun)速(su)發(fa)現(xian)整(zheng)改(gai)措(cuo)施(shi)對(dui)超(chao)標(biao)頻(pin)率(lv)點(dian)以(yi)及(ji)其(qi)他(ta)頻(pin)段(duan)幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)發(fa)射(she)強(qiang)度(du)的(de)影(ying)響(xiang)。診(zhen)斷(duan)整(zheng)改(gai)的(de)時(shi)間(jian)比(bi)較(jiao)長(chang)，在(zai)不(bu)順(shun)利(li)的(de)情(qing)況(kuang)下(xia)
，很(hen)可(ke)能(neng)需(xu)要(yao)花(hua)幾(ji)天(tian)才(cai)能(neng)解(jie)決(jue)發(fa)射(she)超(chao)標(biao)的(de)問(wen)題(ti)。輻(fu)射(she)發(fa)射(she)測(ce)試(shi)流(liu)程(cheng)最(zui)後(hou)兩(liang)個(ge)環(huan)節(jie)是(shi)審(shen)查(zha)和(he)出(chu)報(bao)告(gao)。