手機電磁兼容測試之電快速瞬變脈衝群抗擾度試驗
發布時間:2013-03-15 責任編輯:Lynnjiao
【導讀】本(ben)文(wen)針(zhen)對(dui)手(shou)機(ji)電(dian)磁(ci)兼(jian)容(rong)測(ce)試(shi)的(de)電(dian)快(kuai)速(su)瞬(shun)變(bian)脈(mai)衝(chong)群(qun)抗(kang)擾(rao)度(du)試(shi)驗(yan)中(zhong)經(jing)常(chang)發(fa)現(xian)的(de)問(wen)題(ti)進(jin)行(xing)了(le)分(fen)析(xi),並(bing)提(ti)出(chu)了(le)相(xiang)應(ying)的(de)改(gai)善(shan)手(shou)機(ji)電(dian)磁(ci)兼(jian)容(rong)性(xing)能(neng)的(de)建(jian)議(yi)。
電快速瞬變脈衝群抗擾度試驗
電快速瞬變脈衝群抗擾度試驗概述
電快速瞬變脈衝群產生的原理如下:當電感性負載(如繼電器、接觸器等)在斷開時,由於開關觸chu點dian間jian隙xi的de絕jue緣yuan擊ji穿chuan或huo觸chu點dian彈dan跳tiao等deng原yuan因yin,在zai斷duan開kai處chu產chan生sheng的de瞬shun態tai騷sao擾rao。當dang電dian感gan性xing負fu載zai多duo次ci重zhong複fu開kai關guan,則ze脈mai衝chong群qun又you會hui以yi相xiang應ying的de時shi間jian間jian隙xi多duo次ci重zhong複fu出chu現xian。這zhe種zhong瞬shun態tai騷sao擾rao能neng量liang較jiao小xiao,一yi般ban不bu會hui引yin起qi設she備bei的de損sun壞huai,但dan由you於yu其qi頻pin譜pu分fen布bu較jiao寬kuan,所suo以yi會hui對dui移yi動dong電dian話hua機ji的de可ke靠kao工gong作zuo產chan生sheng影ying響xiang。
該試驗是一種將由許多快速瞬變脈衝組成的脈衝群耦合到移動電話機的電源端口的試驗。試驗脈衝的特點是:瞬變脈衝上升時間短、重複出現、能neng量liang低di。該gai試shi驗yan的de目mu的de就jiu是shi為wei了le檢jian驗yan手shou機ji在zai遭zao受shou這zhe類lei暫zan態tai騷sao擾rao影ying響xiang時shi的de性xing能neng。一yi般ban認ren為wei電dian快kuai速su瞬shun變bian脈mai衝chong群qun之zhi所suo以yi會hui造zao成cheng手shou機ji的de誤wu動dong作zuo,是shi因yin為wei脈mai衝chong群qun對dui線xian路lu中zhong半ban導dao體ti結jie電dian容rong充chong電dian,當dang結jie電dian容rong上shang的de能neng量liang累lei積ji到dao一yi定ding程cheng度du,便bian會hui引yin起qi手shou機ji的de誤wu操cao作zuo。具ju體ti表biao現xian為wei在zai測ce試shi過guo程cheng中zhong移yi動dong電dian話hua機ji通tong信xin中zhong斷duan、死機、軟件告警、控製及存儲功能喪失等。

圖題:電快速瞬變脈衝群抗擾度試驗
電快速瞬變脈衝群抗擾度試驗常見問題分析
電(dian)快(kuai)速(su)瞬(shun)變(bian)脈(mai)衝(chong)波(bo)形(xing)通(tong)過(guo)充(chong)電(dian)器(qi)直(zhi)接(jie)傳(chuan)導(dao)進(jin)手(shou)機(ji),導(dao)致(zhi)主(zhu)板(ban)電(dian)路(lu)上(shang)有(you)過(guo)大(da)的(de)噪(zao)聲(sheng)電(dian)壓(ya)。當(dang)單(dan)獨(du)對(dui)火(huo)線(xian)或(huo)零(ling)線(xian)注(zhu)入(ru)時(shi),盡(jin)管(guan)是(shi)采(cai)取(qu)的(de)對(dui)地(di)的(de)共(gong)模(mo)方(fang)式(shi)注(zhu)入(ru),但(dan)在(zai)火(huo)線(xian)和(he)零(ling)線(xian)之(zhi)間(jian)存(cun)在(zai)差(cha)模(mo)幹(gan)擾(rao),這(zhe)種(zhong)差(cha)模(mo)電(dian)壓(ya)會(hui)出(chu)現(xian)在(zai)充(chong)電(dian)器(qi)的(de)直(zhi)流(liu)輸(shu)出(chu)端(duan)。當(dang)同(tong)時(shi)對(dui)火(huo)線(xian)和(he)零(ling)線(xian)注(zhu)入(ru)時(shi),存(cun)在(zai)著(zhe)共(gong)模(mo)幹(gan)擾(rao),但(dan)對(dui)充(chong)電(dian)器(qi)的(de)輸(shu)出(chu)影(ying)響(xiang)並(bing)不(bu)大(da)。造(zao)成(cheng)手(shou)機(ji)在(zai)測(ce)試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)出(chu)現(xian)問(wen)題(ti)的(de)原(yuan)因(yin)是(shi)複(fu)雜(za)的(de),具(ju)體(ti)表(biao)現(xian)為(wei)以(yi)下(xia)幾(ji)方(fang)麵(mian)。
前期設計時未考慮電快速瞬變脈衝群抑製功能,沒有添加相關的濾波元器件,PCB設計綜合布線時也沒有注意線纜的隔離,主板接地設計也不符合規範,另外關鍵元器件的也沒有采取屏蔽保護措施等;
生(sheng)產(chan)廠(chang)在(zai)元(yuan)器(qi)件(jian)供(gong)應(ying)商(shang)的(de)選(xuan)擇(ze)上(shang)沒(mei)有(you)選(xuan)用(yong)性(xing)能(neng)可(ke)靠(kao)的(de)關(guan)鍵(jian)器(qi)件(jian),導(dao)致(zhi)測(ce)試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)器(qi)件(jian)老(lao)化(hua)或(huo)者(zhe)器(qi)件(jian)失(shi)效(xiao),從(cong)而(er)容(rong)易(yi)受(shou)到(dao)電(dian)快(kuai)速(su)瞬(shun)變(bian)脈(mai)衝(chong)的(de)幹(gan)擾(rao);
在整機生產組裝過程中,加工工藝及組裝水平出現的問題可能會導致產品一致性不好,個別送檢手機存在質量問題;
檢測過程中由於其他測試項出現問題導致整改,可能由於整改方案的選擇會影響到電快速瞬變脈衝群測試不合格。
電快速瞬變脈衝群抗擾度試驗相關問題的改進建議
針對電快速脈衝群幹擾試驗出現的問題,主要可以采取濾波及吸收的辦法來實現對電快速瞬變脈衝的抑製。
(1)在手機設計初期就應重點考慮抑製電快速瞬變脈衝群幹擾設計。
在PCB層電源輸入位置要做好濾波,通常采用的是大小電容組合,根據實際情況可以酌情再添加一級磁珠來濾除高頻信號,盡量采用表麵封裝; 盡量減小PCB的地線公共阻抗值; PCB布局盡量使幹擾源遠離敏感電路; PCB的各類走線要盡量短; 減小環路麵積; 在綜合布線時要注意強弱電的布線隔離、信號線與功率線的隔離。
綜合布線是係統很重要的一個設計組成部分,一個糟糕的綜合布線格局很可能斷送一個設計精良的PCB的穩定性; 關鍵敏感芯片需要屏蔽; 軟件上應正確檢測和處理告警信息,及時恢複產品的狀態。
(2)元器件的選擇上應使用質量可靠的芯片,最好做過芯片級的電磁兼容仿真試驗,質量可靠的充電器、數據線及電池的選用可提升對電快速瞬變脈衝信號的抑製能力。
(3)廠chang家jia在zai組zu裝zhuang生sheng產chan環huan節jie中zhong應ying嚴yan把ba質zhi量liang關guan,做zuo好hao生sheng產chan工gong藝yi流liu程cheng控kong製zhi,盡jin量liang保bao證zheng產chan品pin質zhi量liang的de一yi致zhi性xing,減jian少shao因yin個ge別bie手shou機ji質zhi量liang問wen題ti帶dai來lai的de測ce試shi不bu合he格ge現xian象xiang。
(4)EFT測試過程中如出現問題,可采用在充電器增加磁環或者電快速瞬變脈衝群濾波器的方法進行整改,選用磁珠的內徑越小、外徑越大、長度越長越好。采用加TVS管的整改方法作用有限。
(5)根據最新GB/T 17626.4-2008標準要求,重複頻率將增加100 kHz選項,將會比5 kHz更為嚴酷,廠家應及早重視進行相關的電快速瞬變脈衝群測試防護工作。
- 噪聲中提取真值!瑞盟科技推出MSA2240電流檢測芯片賦能多元高端測量場景
- 10MHz高頻運行!氮矽科技發布集成驅動GaN芯片,助力電源能效再攀新高
- 失真度僅0.002%!力芯微推出超低內阻、超低失真4PST模擬開關
- 一“芯”雙電!聖邦微電子發布雙輸出電源芯片,簡化AFE與音頻設計
- 一機適配萬端:金升陽推出1200W可編程電源,賦能高端裝備製造
- 1200餘家企業齊聚深圳,CITE2026打造電子信息產業創新盛宴
- 掌握 Gemini 3.1 Pro 參數調優的藝術
- 築牢安全防線:電池擠壓試驗機如何為新能源產業護航?
- Grok 4.1 API 實戰:構建 X 平台實時輿情監控 Agent
- 電源芯片國產化新選擇:MUN3CAD03-SF助力物聯網終端“芯”升級
- 車規與基於V2X的車輛協同主動避撞技術展望
- 數字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰
- 汽車模塊拋負載的解決方案
- 車用連接器的安全創新應用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall


