其原因可能有以下幾點：

 

1.  在測試中，未正確進行測量或未在指定的測量條件內進行測量.

 

2.  測試中所用的儀表設置可能不正確，或者使用的測量設備不足以準確測量MLCC。

 

3.  這些物料不應包含在所列的規格範圍中——點擊這裏獲取更多信息。

 

以下是我們建議的測試步驟和檢查清單
，以幫助工程師明確他們在測量過程中需要注意的內容。

 

第 1 部分：測量要求

 

測(ce)量(liang)頻(pin)率(lv)和(he)電(dian)壓(ya)對(dui)於(yu)正(zheng)確(que)測(ce)量(liang)陶(tao)瓷(ci)電(dian)容(rong)的(de)值(zhi)而(er)言(yan)是(shi)非(fei)常(chang)重(zhong)要(yao)的(de)。請(qing)查(zha)看(kan)廠(chang)商(shang)和(he)係(xi)列(lie)，並(bing)在(zai)規(gui)格(ge)書(shu)中(zhong)找(zhao)到(dao)你(ni)的(de)電(dian)容(rong)，以(yi)確(que)認(ren)所(suo)需(xu)的(de)測(ce)量(liang)頻(pin)率(lv)和(he)電(dian)壓(ya)。

 

[建議的檢查清單]

 

測量頻率：_______________________ Hz

 

測量電壓：_______________________ V

 

第 2 部分：測量設備要求和設置

 

由於大多數萬用表無法進行配置以滿足某個電容的特定測量條件

，因此通常使用LCR表來測量MLCC電容值。盡量使用測量夾具，以便在測量過程中保持樣品的穩定性。然後打開LCR表的自動電平控製 (ALC) 功能。

 

圖1：打開ALC後，電壓電平顯示屏上就會出現“*”符號（了解為什麼要打開ALC，點擊這裏）

 

[建議的檢查清單]

 

是否使用夾具（是或否）：_______

 

是否打開自動電平控製（ALC）（是或否）：_______

 

第 3 部分：加熱處理（去老化）

 

由於物理結構的原因，2類（高介電常數）MLCC電容值會隨著時間的推移而逐漸減少。該屬性稱為電容的“老化” 現象。這就是為什麼客戶有時會發現其電容的電容值低於對應的規格。一般來說，在150℃（+0/-10℃）下經加熱處理（烘烤）1小時，並在室溫下冷卻24小時（+/-2小時）後，電容值可以恢複到所述規格。

 

因此在測量電容值之前
，應在150℃+0/-10℃下加熱電容1小時，並在環境空氣中將其冷卻24±2小時。（了解為什麼隻有2類電容需要去老化，可點擊這裏）

 

[建議的檢查清單]

 

哪一類MLCC（1類-C0G或NP0/ 2類-除C0G或NP0以外的其他電容）：_______

 

該樣品是否在150℃+0/-10℃下加熱（烘烤）1小時，並在環境溫度中保持冷卻24±2小時

？（是或否）：_______

 

來源： Digi-Key